在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內(nèi)阻的最好方法，因為它避免了直流能量的消耗。
高速測量
高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構(gòu)成一個測量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測試時間縮短到最低限度。
自動測量方式
在進(jìn)行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設(shè)定測量范圍。
技術(shù)指標(biāo)
(全面的技術(shù)指標(biāo)請參閱技術(shù)資料)
測量功能
測量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])
組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式)
數(shù)學(xué)功能：偏差和相對偏差(以百分比表示)
顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇)
測試信號特性
測試頻率：1kHz
頻率精度：±0.1%
測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms
電平精度：±(10%＋0.2μA)
樣品兩端的**電壓：在任何情況下**為20mV峰值
測量范圍
參數(shù) 測量范圍
R 10μΩ~100kΩ
X,|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值)
L 10nH~10H(典型值)
θ -180°~＋180°(典型值)
測量精度：R的基本精度為±0.4%
測量時間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測量(EOM)信號輸出的時間間隔
模式 時間(典型值)
短 34ms
中等 70ms
長 900ms
修正功能
短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差
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