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數字IC的特點是什么？

瑞特威科技為你講解數字IC的特點：

01生命周期可長達10年。

數字IC強調的是運算速度與成本比，數字IC設計的目標是在盡量低的成本下達到目標運算速度。設計者必須不斷采用更的算法來處理數字信號，或者利用新工藝提高集成度降低成本。因此數字IC的生命周期很短，大約為1年-2年。

02工藝特殊少用CMOS工藝

數字IC多采用CMOS工藝，而模擬IC很少采用CMOS工藝。因為模擬IC通常要輸出高電壓或者大電流來驅動其他元件，而CMOS工藝的驅動能力很差。不管是在空氣流通的熱帶區域中，還是在潮濕的區域中運輸，潮濕都是顯著增加電子工業開支的原因。此外，模擬IC關鍵的是低失真和高信噪比，這兩者都是在高電壓下比較容易做到的。而CMOS工藝主要用在5V以下的低電壓環境，并且持續朝低電壓方向發展。

03與元器件關系緊密

對于數字電路來說是沒有噪音和失真的，數字電路設計者完全不用考慮這些因素。此外由于工藝技術的限制，模擬電路設計時應盡量少用或不用電阻和電容，特別是高阻值電阻和大容量電容，只有這樣才能提高集成度和降低成本。

某些射頻IC在電路板的布局也必須考慮在內，而這些是數字IC設計所不用考慮的。因此模擬IC的設計者必須熟悉幾乎所有的電子元器件。

數字IC應用驗證方真技術研究

應用驗證是指導IC元器件在系統中的可靠應用的關鍵,重點要關注應用系統對器件接口信號的影響,因此無論是采用純軟件還是軟硬件協同的方式進行應用驗證都需要先完成應用系統的PCB工作。EM(electronmigration，電子遷移)“電子遷移”是50年代在微電子科學領域發現的一種從屬現象，指因電子的流動所導致的金屬原子移動的現象。本文提出的應用驗證技術方案以基IBIS模型在多個平臺進行PCB SI(Signal Integrity)的方式提取出所需的數據,實現對系統應用環境的模擬;在此基礎上通過軟件和軟硬件協同兩種方法來實現數字IC器件的應用驗證。為保證應用驗證的順利進行,對方案中涉及到的IBIS建模、PCB SI和S參數的提取及等技術進行了研究。

提出的應用驗證技術方案的指導下,以SRAM的應用驗證為例進行了相關的技術探索。一般來說，綜合完成后需要再次做驗證（這個也稱為后）邏輯綜合工具：Synopsys的DesignCompiler，工具選擇上面的三種工具均可。首先對IBIS模型建模技術進行了深入研究,并完成了SRAM以及80C32等相關IC器件的IBIS模型建模工作;接著基于IBIS模型進行PCB SI,模擬了SRAM的板級應用環境并提取了應用驗證所需的數據;后分別對適用于SRAM的軟件平臺和軟硬件協同平臺進行了相關設計,并完成了SRAM的應用驗證。通過對SRAM的應用驗證,證明了本文所提出的應用驗證技術方案的可行性。

數字IC測試系統的發展

隨著數字集成電路性能的不斷提高,數字集成電路測試系統也相應得到了迅速發展。虛接口和對應的通用方法可以把設計和驗證平臺分隔開來，保證其不受設計改動的影響。主要表現在以下幾方面: 測試通道數增加數字電路集成度的不斷提高和專用集成電路的出現,器件的引腳數不斷增加,使得數字測試系統的測試通道數相應不斷增加。由測試中、小規模集成電路的24通道測試系統,測試大規模集成電路的48通道、64通道測試系統發展到測試超大規模集成電路的128通道、256通道甚至更多通道數的測試系統。

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