北京尼通手持測(cè)碳光譜儀維修信息推薦

激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)

安全分析

當(dāng)操作強(qiáng)大的激光器時(shí)，應(yīng)十分小心。Niton Apollo 配置三個(gè)可靠的安全聯(lián)鎖裝置，有助于降低激光誤操作風(fēng)險(xiǎn)。手持LIBS光譜儀能對(duì)生產(chǎn)過程進(jìn)行高速，的監(jiān)控，完善企業(yè)質(zhì)量管理體系，提高生產(chǎn)效率，是工業(yè)生產(chǎn)過程中的一個(gè)不可或缺的環(huán)節(jié)。聯(lián)鎖裝置經(jīng)由第三方檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)進(jìn)行試驗(yàn)、測(cè)試和驗(yàn)證，有助于確保操作人員安全。Niton Apollo 通過測(cè)量腔室壓力、光譜類型和攝像頭明 / 暗條件進(jìn)行聯(lián)鎖，用戶可安心操作。

檢出限和定量分析LIBS檢出限很大程度上取決于被測(cè)樣品的類型、具體哪些元素、以及儀器的激光器/光譜檢測(cè)器的選型配置。基于以上原因，LIBS的檢出限可以從幾ppm一直到%級(jí)的范圍。用戶可計(jì)算碳當(dāng)量并執(zhí)行高等級(jí)平均，同時(shí)還可以識(shí)別合金牌號(hào)和偽元素。在大多數(shù)常規(guī)應(yīng)用中，對(duì)于絕大多數(shù)元素，LIBS檢出限可以做到10 ppm到100 ppm。在定量分析中，通過LIBS獲得的測(cè)量結(jié)果的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差可以達(dá)到3-5%以內(nèi)，而對(duì)于均質(zhì)材料通常可以到2%以內(nèi)甚至<1%。

LIBS的產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程

LIBS概念自20世紀(jì)60年代提出以來，因各種原因，一直以來主要用于科學(xué)研究領(lǐng)域。隨著技術(shù)的不斷突破，例如穩(wěn)定可靠的激光器、高分辨率光譜儀、以及分析軟件技術(shù)等進(jìn)展，LIBS的產(chǎn)業(yè)化在近十年中有了快速的發(fā)展，使其成為可以真正應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室甚至工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)用分析儀器。除了原子發(fā)射的特征峰以外,譜圖中一般還有由于帶電粒子軔致輻射產(chǎn)生的輻射,但是這種輻射形成連續(xù)的背景譜線,般并不影響元素的鑒別。其中比較有代表性的是TSI推出的ChemReveal 臺(tái)式LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀，除了擁有LIBS通常具有的特點(diǎn)，其內(nèi)置的雙攝像頭、微秒級(jí)時(shí)序控制、微米級(jí)XYZ三軸樣品臺(tái)控制、以及可編程的量化分析軟件等功能，使儀器的可靠性、可重復(fù)性和操作便利性達(dá)到了商業(yè)或工業(yè)應(yīng)用的要求。

近幾年國(guó)際和國(guó)內(nèi)對(duì)激光誘導(dǎo)擊穿光譜的關(guān)注日益升溫,激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析技術(shù) 正在從實(shí)驗(yàn)室研究逐步推廣到環(huán)境檢測(cè)、鑒定與保護(hù)、等領(lǐng)域,甚至開始進(jìn)入 工業(yè)應(yīng)用。在激光照射的光斑區(qū)域，樣品中的材料被燒蝕剝離，并在樣品上方形成納米粒子云團(tuán)。但是由于激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù)易受環(huán)境因素影響,同時(shí)在定量分方面與傳統(tǒng) 技術(shù)相比還存在較大的差距,因此激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù)的推廣,有待于大批研究者 的繼續(xù)努力。