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KOAN 溫補晶振和恒溫晶振的頻率老化率對比

說明： TCXO 的頻率老化率為： ±0.2ppm～±2ppm （首年）和±1ppm～±5ppm （十年） （除特殊情況，TCXO 很少采用每天頻率老化率的指標，因為即使在實驗室的條件下，溫度變化引起的頻率變化也將大大超過溫度補償晶體振蕩器每天的頻率老化，因此這個指標失去了實際的意義）。2直插封裝5引腳，T-HCMOS高速CMOS輸出，S-TrueSine真正弦波輸出。OCXO 的頻率老化率為： ±0.5ppb～±10ppb/天（加電 72 小時后），±30ppb～±2ppm（首年），±0.3ppm～±3ppm（十年）。

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影響 KOAN 恒溫晶振頻率漂移（老化）的主要機理

1) 引起晶振頻率漂移的是石英諧振器的參數，動態電容和動態電感隨時間而變化；

2) 加在石英片的機械應力變化引起的頻率漂移，稱為馳豫效應；

3) 晶片表面污染和或封裝盒內部污染也是造成諧振器老化的一個重要原因；

4) 流過諧振器激勵電流的大小對老化率有影響；

5) 振蕩電路和恒溫控制電路中有源和無源元件的老化也會影響振蕩頻率的老化率。

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KOAN 恒溫晶振的長期和短期頻率穩定度概念解釋

低老化率晶振是指長期穩定度比較好，低噪聲晶振是指短期頻率穩定度比較好。5ppb～±10ppb/天（加電72小時后），±30ppb～±2ppm（首年），±0。低老化率晶振都是指恒溫晶振，無論低噪聲晶振或低老化晶振，都要求石英諧振器的 Q 值盡可能高。低老化率晶振和低噪聲晶振的設計，在有些方面是互相矛盾的，因此選擇恒溫晶振參數中低老化率和低噪聲時，要結合產品的長期和短期頻率穩定度要求，KOAN 恒溫晶振已經使矛盾兼顧平衡。

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恒溫晶體振蕩器 專業術語

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1）頻率準確度：按規定條件要求，在基準溫度下測試，晶體振蕩器的頻率相對于其規定標稱值的較大允許偏差，即（f-f0）/f0；

2）頻率－溫度穩定度：按規定條件要求，在規定溫度范圍內晶體振蕩器輸出頻率的較大變化量相對于溫度范圍內輸出頻率極值之和的允許頻偏值，即±（fmax-fmin）/（fmax fmin）；

3）頻率老化：晶體振蕩器輸出頻率隨時間的變化，通常用某一時間間隔的頻率來量度。如0至30天的總變化或1年內的預定總頻率變化等；

4）工作溫度范圍：振蕩器能正常工作。其頻率及其他性能均不超過規定的允許偏差的溫度范圍；