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發布時間:2020-12-13 02:25  
華科智源IGBT測試儀針對 IGBT 的各種靜態參數而研制的智能測試系統;IGBT靜態參數測試部分主要材料技術要求 1)閾值電壓測試電路 閾值電壓測試電路(僅示出IEC標準測試電路) 。自動化程度高(按照操作人員設定的程序自動工作),計算機可以記錄測試結果,測試結果可轉化為文本格式存儲,測試方法靈活(可測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試),安全穩定(對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖),具有安全保護功能,測試速度方便快捷。

3、技術指標 * 3.1 機臺可測試器件類型 二極管、MOSFET、IGBT單管及模組 * 3.2 機臺可測IGBT項目 及測試范圍 VGE(th)柵極閾值電壓 VCES集射極截止電壓 ICES集射極截止電流 VCE(sat)飽和導通壓降 Iges柵極漏電流 VF二極管導通電壓 可以測5000V,1600A以下的IGBT模塊 * 3.3 機臺可測MOS項目 Vf、Vdsat、IGSS、Vgth、BVdss、Rds(on)、Gfs 3.4 測試項目 測量范圍 測試條件與精度 * 3.5 VGE(th) 柵極閾值電壓 0.1~10V VGE:0.1~10V±1%±0.01V; 解析度:0.01V 集電極電流Ic: 10~50mA±1%±0.5mA; 50~200mA±1%±1mA; 200~1000mA±1%±2mA;在調試期間發現元件有缺陷或受到損壞,應由賣方負責免費更換并予以賠償。

技術要求
3.1整體技術指標
3.1.1 功能與測試對象
*1)功能
GBT模塊動態參數測試。
*2)測試對象
被測器件IGBT模塊動態參數。測試溫度范圍 Tj=25°及125°。
3.1.2 IGBT模塊動態測試參數及指標
測試單元對IGBT模塊和FRD的動態參數及其他參數的定義滿足國際標準IEC60747-9以及IEC60747-2。
以下參數的測試可以在不同的電壓等級、電流等級、溫度、機械壓力、回路寄生電感以及不同的驅動回路參數下進行。

14)工控機及操作系統
用于控制及數據處理,采用定制化系統,主要技術參數要求如下:
?機箱:4Μ 15槽上架式機箱;
?支持ATX母板;
?CPΜ:INTEL雙核;
?主板:研華SIMB;
?硬盤:1TB;內存4G;
?3個5.25”和1個3.5”外部驅動器;
?集成VGA顯示接口、4個PCI接口、6個串口、6個ΜSB接口等。
?西門子PLC邏輯控制
15)數據采集與處理單元
用于數據采集及數據處理,主要技術參數要求如下:
?示波器;高壓探頭:滿足表格4-11動態參數、短路電流、安全工作區測試需求
?電流探頭:滿足表格4-11動態參數、短路電流、安全工作區測試需求
?狀態監測:NI數據采集卡
?上位機:基于Labview人機界面
?數據提取:測試數據可存儲為Excel文件及其他用戶需要的任何數據格式,特別是動態測試波形可存儲為數據格式;所檢測數據可傳遞至上位機處理;從檢測部分傳輸的數據經上位機處理后可自動列表顯示相應測試數據;?數據處理和狀態檢測部分內容可擴展
