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              EMC系統(tǒng)測(cè)試 解決方案詢問報(bào)價(jià)

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              發(fā)布時(shí)間:2020-07-18 16:10  

              EMC系統(tǒng)測(cè)試方案

              這是一種靈活、可靠的解決方案,可用來(lái)按照IEC/EN 61000-4-3標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行EMS輻射測(cè)試。該先進(jìn)的測(cè)試平臺(tái)包括EMS和EMI測(cè)試需要的所有部件,覆蓋了預(yù)認(rèn)證和認(rèn)證測(cè)試要求的所有通用頻段和場(chǎng)強(qiáng)。鑒于系統(tǒng)的模塊化設(shè)計(jì)和多樣化配置功能,用戶可以對(duì)其進(jìn)行調(diào)整以適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的變更和廠家特殊測(cè)試要求。它主要研究電磁波輻射,電磁干擾,雷擊,電磁材料等方面。該系統(tǒng)還可以擴(kuò)展以應(yīng)對(duì)未來(lái)技術(shù)和新的EMC應(yīng)用。






              雜散定義:指用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)調(diào)制時(shí)在除載頻和由于正常調(diào)制和切換瞬態(tài)引起的邊帶及鄰道以外 離散頻率上的輻射(既遠(yuǎn)端輻射)。雜散輻射按其來(lái)源可分為傳導(dǎo)型和輻射型兩種。

              傳導(dǎo)雜散:指在天線的接頭處50歐姆負(fù)載上測(cè)得的任意離散信號(hào)的電平功率。

              輻射雜散:測(cè)試設(shè)備的機(jī)殼、結(jié)構(gòu)及互連電纜引起的雜散騷擾。測(cè)試條件在電波暗室內(nèi)進(jìn)行,或是在戶外進(jìn)行。






              1. 傳導(dǎo)功率測(cè)試面積 > 7x1M。

              2. 傳導(dǎo)電壓測(cè)試桌:推薦 2x1.5x0.8,要考慮柜式設(shè)備的測(cè)試面積。

              3. 諧波及閃爍測(cè)試面積 >2x2。

              4. 靜電放電測(cè)試桌:推薦 2x1.5x0.8。

              5. 瞬變及電源質(zhì)量測(cè)試桌: 推薦 2x1.5x0.8,可用同一張測(cè)試桌。

              6. 傳導(dǎo)射頻敏感度測(cè)試桌: 推薦 2x1.5x0.8,可用同一張測(cè)試桌。

              7. 屏蔽室和實(shí)驗(yàn)室要有相應(yīng)的溫濕度要求。

              8. 敏感度測(cè)試時(shí)周圍不能有敏感設(shè)備。

              9. 在實(shí)驗(yàn)室做測(cè)試時(shí),周圍不能有發(fā)射或干擾設(shè)備,否則測(cè)試要在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行。

              10. 除功率放大器和諧波,閃爍系統(tǒng)為三相供電外,其他設(shè)備均為單相供電。

              11.以上為測(cè)試環(huán)境要求。

              12 所有測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),如需要國(guó)標(biāo)的請(qǐng)對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照表 。






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