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              發布時間:2020-10-18 10:50  






              顯微鏡的重要光學技術參數

              分辨率 分辨率是衡量顯微鏡性能的又一個重要技術參數,用公式表示為:d=0.61λ/NA,式中d為分辨距離,λ為光線的波長,NA為物鏡的數值孔徑。 顯微鏡的重要光學技術參數 可見物鏡的分辨率是由物鏡的NA值與照明光源的波長兩個因素決定。NA值越大,照明光線波長越短,則d值越小,分辨率就越高。 要提高分辨率,可采取以下措施。 1、降低波長λ值,使用短波長光源。 2、曾大介質η值和提高NA值。 3、消色差。 4、增加明暗反差。


              金相光學顯微鏡的光源處增加起偏器

              在金相顯微鏡的基礎上,我們又拓展出了巖相顯微鏡(偏光顯微鏡),因為其常用于觀察巖石、水泥等無機材料而得名。其本質上就是在金相光學顯微鏡的光源處增加起偏器,鏡筒處增加檢偏器,也就是方向相互垂直的偏振片。   主要原理便是光在通過雙折射體時方向會變換90°,便可以被觀察到;而光通過單折射體時方向不變換,在觀察時便無法看到。


              SEM的優點是,1有較高的放大倍數,2

              SEM的優點是,①有較高的放大倍數,2-20萬倍之間連續可調;②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構;③試樣制備簡單,導電樣品可以直接觀察。如果是非導電樣品則需要覆上導電層 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析,因此它是當今十分有用的科學研究儀器。


              偏光鏡檢術的方式及要求

              偏光鏡檢術的方式 正相鏡檢:又稱無畸變鏡檢,其特點是使用低倍物鏡,不用伯特蘭透鏡,同時為使照明孔徑變小,推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。 錐光鏡檢:又稱干涉鏡檢,這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。 顯微鏡的分類和特點 偏光顯微鏡在裝置上的要求 1、光源:采用單色光,因為光的速度,折射率和干涉現像因波長的不同而有差異。 2、目鏡:要帶有十字線的目鏡。 3、聚光鏡:為了取得平行偏光,應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。 4、伯特蘭透鏡:這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。


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