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帶你了解現代科研中的顯微鏡TEM

透射電鏡和高分辨率透射電鏡 透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，TEM）以及HRTEM(High Resolution Transmission Electron Microscope )高分辨率的透射電鏡，分辨率可達0.2nm。 帶你了解現代科研中的顯微鏡 　　TEM是發展較為成熟同時也相當復雜的電子顯微鏡，當時為了找到波長更短的“光”以達到更高的分辨率，1932年被發明。其成像原理與光學顯微鏡幾乎相同（但還是不同），可以說是用電子束代替可見光的手段。

偏光鏡檢術的要求是什么

偏光鏡檢術的要求 1、載物臺的中心與光軸同軸。 2、起偏鏡和檢偏鏡應處于正交位置。 3、制片不宜過薄。 顯微鏡的分類和特點 體視顯微鏡 體視顯微鏡又稱"實體顯微鏡"或"解剖鏡"。由一個共用的初級物鏡，對物體成像后的兩光束被兩組中間物鏡變焦分開，并成一體視角再經各自的目鏡成像，它的倍率變化是由改變中間鏡組之間的距離而獲得。是一種具有正像立體感地目視儀器，被廣泛地應用于生物學、醫學、農林、工業及海洋生物各部門。

超越原子級的分辨率,對理解重要的幾類材料非常關鍵

超越原子級的分辨率，對理解重要的幾類材料非常關鍵，比如超導體、磁體和催化劑等。理論上來說，原子應均勻地整齊排列，但原子的實際位置常常會有小的偏差，這使得材料可以存儲電荷、信息和能量，比如用作計算機存儲芯片的鐵電氧化物（ferroelectric oxide）和用作固態燃料電池的電催化氧化物（electrocatalytic oxide）。納米金屬（nanophase metal）、陶瓷、合金、太陽能電池、蓄電池和不同類型的玻璃，這些材料的原子排列非常復雜，現有技術還無法進行觀測。