香港涂層測(cè)厚儀多重優(yōu)惠【一六儀器】

一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

（一）、內(nèi)部結(jié)構(gòu)

   X熒光光譜測(cè)厚儀機(jī)型很多，但是其內(nèi)部結(jié)構(gòu)如果先天不足，后期的外部結(jié)構(gòu)無(wú)論自動(dòng)化多高，也無(wú)法完全滿足客戶需求。內(nèi)部結(jié)構(gòu)重要的3點(diǎn)：

1、X熒光發(fā)射和CCD觀測(cè)是否同步和垂直？

2、測(cè)試樣品是否可以變化測(cè)頭到樣品的距離？

3、X光照射面積從出口到樣品的擴(kuò)散情況。

（二）、各種內(nèi)部結(jié)構(gòu)的優(yōu)缺點(diǎn)

   1、X熒光發(fā)射和CCD觀測(cè)樣品只有同步且垂直才不會(huì)因?yàn)闃悠返母叩蜕顪\變化而改變測(cè)試到樣品的位置，才能保證定位精準(zhǔn)，同時(shí)減少與探測(cè)器或計(jì)數(shù)器的夾角，夾角小測(cè)試時(shí)

受樣品曲面或者傾斜影響小。

2、測(cè)試樣品距離可變化才能測(cè)試高低不平帶凹槽的樣品工件，同時(shí)也兼顧好平面樣品的測(cè)試。但是它需要配備變焦鏡頭和變焦

補(bǔ)償射線的算法。

3、X光照射面積從出口到樣品的擴(kuò)散過(guò)于嚴(yán)重會(huì)導(dǎo)致無(wú)法測(cè)試樣品工件上較小的平面位置，如果減小出口（準(zhǔn)直器直徑），又會(huì)嚴(yán)重耗損X光的強(qiáng)度。

因此一臺(tái)此類儀器的小準(zhǔn)直器不是關(guān)鍵，但是測(cè)試面積卻是個(gè)重要的指標(biāo)。

一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

XTU-A、XTU-50A：五金產(chǎn)品、緊固件、汽車配件、衛(wèi)浴等，測(cè)量面積大于?0.2mm的產(chǎn)品

?XTU-BL：主要針對(duì)線路板等大平面，但是需要測(cè)試?0.1mm以下，且求購(gòu)儀器預(yù)算較低的客戶。

?XTU-50B、XTU-4C：可測(cè)試小至?0.05mm測(cè)量面積，且搭載的精密移動(dòng)平臺(tái)和變焦鏡頭（XTU全系列都含有）能滿足各種需求。

常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理

對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進(jìn)行分析的一種常見(jiàn)分析儀器。覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。

波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的前面部分和能量色散型X射線熒光光譜儀是一樣的，X光管激發(fā)樣品，檢測(cè)器測(cè)量來(lái)自樣品的射線，但波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的檢測(cè)器和能量色散型X射線熒光光譜儀的檢測(cè)器不同。70?X是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)的，根據(jù)不同元素特征X射線波長(zhǎng)的不同來(lái)測(cè)定試樣所含的元素。波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的計(jì)策系統(tǒng)由一套準(zhǔn)直器，衍射晶體和探測(cè)器組成，來(lái)自樣品的特征譜線照射到鏡頭上，晶體將不同波長(zhǎng)(能量)的譜線衍射到不同的方向，（相當(dāng)于棱鏡將復(fù)合光分解成不同的單色光），將檢測(cè)器放置在一定的角度，就可測(cè)量某一波長(zhǎng)的譜線強(qiáng)度。將分光晶體和探測(cè)器裝在測(cè)角儀上，使它在一定角度范圍內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)，一次測(cè)量不同波長(zhǎng)長(zhǎng)譜線的強(qiáng)度，使用這種形式的光譜儀稱為順序掃描式光譜儀。安裝固定檢測(cè)系統(tǒng)的稱為同時(shí)式光譜儀，每一套檢測(cè)系統(tǒng)都有自己的晶體和探測(cè)器，分別測(cè)量某一特定元素的譜線，各譜線的強(qiáng)度同時(shí)被測(cè)量，這就很容易理解為什么稱它為固定道波長(zhǎng)色散型光譜儀，另外也有固定式和轉(zhuǎn)動(dòng)式結(jié)合的儀器。X射線波長(zhǎng)色散型光譜儀一般有光源（X-射線管）、樣品室

分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。