鍍層測厚儀詢問報價「多圖」

一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題

鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆

層測厚時采用。

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。

測厚范圍可測定厚度范圍:取決于用戶的具體應用。將列表可測定的厚度范圍-基本分析功能無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。根據客戶本身應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍:Ti22–U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時，可同時測定15種元素多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析-調整和校正功能系統自動調整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統漂移譜峰計數時，峰漂移自動校正功能譜峰死時間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標準樣品和實測樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計算-測量自動化功能(要求XY程控機構)鼠標控制測量模式:'PointandShoot'多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能-樣品臺程控功能(要求XY程控機構)設定測量點oneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預覽

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X熒光光譜儀原理及應用領域

一、簡單原理

      每個元素受高能輻射激發，即發射出具有一定特征的X射線譜線。通過軟件測試分析得出該譜線波長，即可知道是那種元素（定性）；通過分析測試其強度，得出該元素含量（定量）。X熒光光譜分析是一種非常常見的分析技術，

二、應用領域

     X熒光光譜儀作為一種常見的分析技術手段，在現實生活中有著非常廣泛的應用，主要可以分為以下四大類：

1.鍍層行業

     電鍍行業尤其以工業電鍍為主，在工業生產中，通常我們為了產品尤其是金屬類能達到一定的性能會在其表面鍍上另一種金屬，這種金屬電鍍的膜厚往往是受管控，而X熒光光譜儀就是其best的管控者。

2.重金屬檢測

      我們的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等這些都跟我們有著緊密的關聯，但這其中也許就含有對我們人體是有害的重金屬，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等長期接觸會導致人體的病變甚至，為了使用安全，工業生產時需對產品重金屬檢測管控（RoHS檢測），而X熒光儀器就能對其進行監測。這個方法是測定幾點實際的已知濃度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線強度和濃度之間的關系，以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。

3.元素成分分析

      元素成分分析應用也是更加廣泛，如巖石礦產的開發開采，鋼鐵、銅合金、鋁合金等可能因某一種元素的含量不同就會大大改變其物理性質，為達到這種物理性質就需要控制相關元素的含量，通過X熒光儀器的檢測就可以很好的生產出我們所需的物品，另外還可以利用成分分析原理對珠寶首飾進行真假鑒定。數據報告：對測量的數據結果進行對比和分析，判斷數據是否正常，若出現異常可進行多次測量排除偶然誤差14。

4.古董的檢測

     X熒光儀器在古董的檢測鑒定上也起著重要的作用，通過儀器檢測對產品進行定性分析可得其元素成分，從而對產品的年限進行一個判斷，得出結論。