MV-6DL2D AOI量大從優「安悅電子」

AOI檢測誤判的定義及存在原困：檢測誤判的定義及存在原困：檢測誤判的定義及存在原困誤判的三種理解及產生原因：元件及焊點本來有發生不良的傾向，但處于允收范圍。如元件本來發生了偏移，但在允收范圍內；此類誤判主要是由于闕值設定過嚴造成的，也可能是其本身介于不良與良品標準之間，AOI與MV(人工目檢)確認造成的偏差，此類誤判是可以通過調整及與MV協調標準來降低。


人工目檢是方便、實用、適應性較強的一種。因為從原理上說，設計好的電路板，只要其上的元件類型、位置、極性全部正確，并且焊接良好的話，其性能就應該符合設計要求。但是由于SMT工藝的提高，及各種電路板結構尺寸的需要，使電路板的組裝向著小元件、高密度、細間距方向發展。受自身生理因素的限制，人工目檢對這種電路板已很難進行準確、可靠、重復性高的檢測了。


AOI經過十幾年的發展，技術水平仍處于高速發展階段，如何實現的檢測效果，一直是各AOI廠商不斷攻關的技術話題。目前上可見的 AOI品牌眾多，每種AOI各有所長；每個品牌的AOI優勢主要體現都取決于其不同的創新核心軟件算法，通常采用的軟件算法有：模板比較、邊緣檢查、灰度 模型、特征提取、固態建模、矢量分析、圖形配對和傅里葉氏分析等，但盡管算法各異，AOI的運作原理基本相同。


AOI自動光學檢測設備較大的優勢便是能夠替代之前SMT爐外、爐后的人工目檢工作，并且能夠比人的眼睛更精準的分辨出SMT的打件拼裝缺陷。但就好似人的眼睛一般，AOI大部分也僅能實行物品的表面查驗，因此要是是物品表面上能看獲得的樣子，它都能夠恰當準確無誤的查驗出去，但針對藏在零件下邊或者零件邊沿的點焊很有可能能力比較有限，自然現在有很多的AOI早已能夠作到多方位的拍攝來提升其對IC腳翹的驗出能力，并提升一些被遮掩元器件的拍攝視角，以出示大量的診斷率。