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使用ICP光譜儀環境很重要

如果室內濕度過大，ICP光譜分析儀中的光學元件、光電元件、電子元件等受到潮濕后，易發生銹蝕、霉變等現象導致儀器接觸不良、性能下降，甚至報廢。潮濕的環境還容易使儀器的絕緣性能變差，產生不安全的因素。電器元件受潮后會降低絕緣性能，可用熱吹風吹干，禁止貿然使用，否則會擊穿電器元件發生短路造成光譜分析儀電路系統被燒毀。例如在ICP光譜分析儀光學系統里光柵因濕度過大容易受潮發毛燒壞出現電容打火、高頻發生器使等離子體不容易點燃等現象，嚴重時還會發生高壓電源和高壓電路放毀元件導致高頻發生器損害，如功率管被擊穿，輸出電路阻抗匹配、網絡中的可變電容放電等。

ICP光譜儀的目標元素

ICP光譜儀是上世紀60年代提出、70年代迅速發展起來的，它的迅速發展和廣泛應用是與其克服了經典光源和原子化器的局限性分不開的，那么ICP光譜儀的目標元素都有哪些呢？下面小編就來介紹一下：

ICP光譜儀軟質樣品（例如：銅、鋁、鋅、鉛）必須車削表面或用酒精濕磨.磨好的表面一定不要玷污（例如用手觸摸）.考慮到金屬熱漲冷縮效應,會影響光線穩定性.溫度變化會影響儀器的熱平衡,對和一些電器件會造成不穩定,若溫差較大對光路也會有影響.

ICP光譜儀對于鋼和鑄鐵（顆粒大小,對鋼是60到80之間,對鑄鐵是40到60之間）,建議用適合于本儀器樣品的砂紙干磨.砂紙一定不要被高合金含量的樣品污染（例如：應該先用于低合金樣品，再用于高合金樣品）.樣品必須在清潔的、規范的砂紙上磨（沒有先前激發處理留下的激發的痕跡）.樣品表面不能被拋光（適時更新用過的砂紙）.必須確保樣品在磨的過程中沒有過熱（樣品應該與砂紙只有短暫的接觸）。使用OMA分析光譜，測量準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。如果需要，樣品應該用水冷卻，再干燥，再盡可能短的時間干磨.

ICP光譜儀可用標樣中目標元素的“真實濃度”與分析線對和強度比（R）擬合工作曲線（校準曲線）。如果鐵含量變化過大，如高、中合金鋼，其影響不可忽略，需要用標樣中目標元素的“相對濃度”（或“濃度比”）與分析線對和強度比（R）擬合工作曲線，這就是我國光譜分析的前輩講的“誘導含量法”。如果希望用同一工作曲線同時分析高、中、低合金鋼，那就都要用“相對濃度”來校正基體含量的影響。頻率和輸入功率：激發溫度隨功率增大而，近似線性關系，在其他條件相同時，增加頻率，放電溫度降低。更進一步，如果既要校正基體含量的影響，又要校正共存元素的干擾，就應該用“表觀濃度”來擬合工作曲線。

ICP光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時， 所得結果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。

ICP光譜儀的使用和維護

對氣體控制系統的維護保養

ICP光譜儀氣體控制系統是否穩定正常地運行，直接影響到儀器測定數據的好壞，如果氣路中有水珠、機械雜物雜屑等都會造成氣流不穩定，因此，對氣體控制系統要經常進行檢查和維護。首先要做氣體試驗，打開氣體控制系統的電源開關，使電磁閥處于工作狀態，然后開啟氣瓶及減壓閥，使氣體壓力指示在額定值上，然后關閉氣瓶，觀察減壓閥上的壓力表指針，應在幾個小時內沒有下降或下降很少，否則氣路中有漏氣現象，需要檢查和排除。第二，由于氣中常夾雜有水分和其它雜質，管道和接頭中也會有一些機械碎屑脫落，造成氣路不暢通。光柵使用110mmX80mm大面積的3600刻線/mm的全息光柵，使單色儀的入射光為可利用的較大視角的平行光，提高了光通量，因此提高了穩定性和信號強度。因此，需要定期進行清理，拔下某些區段管道，然后打開氣瓶，短促地放一段時間的氣體，將管道中的水珠，塵粒等吹出。在安裝氣體管道，特別是將載氣管路接在上時，要注意不要讓管子彎曲太厲害，否則載氣流量不穩而造成脈動，影響測定。