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發布時間:2020-10-31 06:28  





前言隨著電子產品向小型化、便攜化、網絡化和方向的發展,對電路組裝技術和I/O引線數提出了更高的要求,芯片的體積越來越小,芯片的管腳越來越多,給生產和返修帶來了困難。原來在SMT中廣泛使用四邊扁平封裝QFP,封裝間距的極限尺寸停留在0.3mm,這種間距的引線容易彎曲、變形或折斷,對SMT組裝工藝、設備精度、焊接材料的要求較高,且組裝窄、間距細的引線QFP缺陷率高可達6000ppm,使大范圍應用受到制約。而球柵陣列封裝BGA器件,由于芯片的管腳分布在封裝底面,將封裝外殼基板原四面引出的引腳變成以面陣布局的鉛/錫凸點引腳,就可容納更多的I/O數,且用較大的引腳間距(如1.5、1.27mm)代替QFP的0.4、0.3mm間距,很容易使用SMT與PCB上的布線引腳焊接互連,不僅可以使芯片在與QFP相同的封裝尺寸下保持更多的封裝容量,又使I/O引腳間距較大,從而大大提高了SMT組裝的成品率,缺陷率僅為0.35ppm,方便了生產和返修,因而BGA在電子產品生產領域獲得了廣泛使用。為提高BGA焊接后焊點的質量和可靠性,就BGA焊點的缺陷表現及可靠性等問題進行研究。 次數用完API KEY 超過次數限制
(一)、焊接球節點1、原材料檢驗:觀察檢查和檢查出廠合格證、試驗報告,有異議時抽樣復檢,抽樣數量按原材料標準抽取。2、焊縫檢驗:檢查數量:同規格的成品球的焊縫以每300只為一批,每批隨機抽取3只,都符合質量標準為合格;如其中有一只不合格,則加倍取樣檢驗,當六只都符合質量標準時方可認為合格。檢驗方法:超聲波探傷或檢查出廠合格證3、單向軸心受壓和受拉承載力檢驗:檢查數量:每個工程可取受力不利的球節點以600只為一批,不足600只仍按一批計,每批取3只為一組隨機抽檢。檢驗方法:用拉力、壓力試驗機或相應的加載試驗裝置。現場檢查產品試驗報告和合格證對于安全等級為一級、跨度40m以上公共建筑所采用的網架結構,以及對質量有懷疑是,現場必需進行復驗。4、焊接球表面:檢查數量:按各種規格節點抽查5%,但每種不少于5件檢查方法:用弧形套模,鋼尺目測檢查。5、成品球壁厚減薄量檢查數量:按各種規格節點抽查5%,但每種不少于5件檢查方法:用超聲波測厚儀,現場復檢。 次數用完API KEY 超過次數限制
全焊接球閥安裝前試壓要求主要包括這些方面
(1)強度試驗。強度試驗采用水作介質;在閥門兩側袖管上焊接高壓—咄帽,將閥門開至45度位置后,通過袖管上的試壓閥門向全焊接球閥內注入水,升壓至球閥公稱壓力的1.5倍,保壓15min,無泄漏為合格。(2)嚴密性試驗。嚴密性試驗采用氮氣作介質;將球閥關閉,從袖管上試壓閥門向球閥內注入氮氣,壓力升至全焊接球閥公稱壓力的1.1倍,中腔放壓閥接軟管通入盛水容器進行檢測,插入深度為1cm;5min內無氣泡產生為合格。 次數用完API KEY 超過次數限制