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電磁兼容測(cè)試的實(shí)質(zhì)是什么？

1、輻射發(fā)射測(cè)試

測(cè)試電子、電氣和機(jī)電設(shè)備及其組件的輻射發(fā)射，包括來(lái)自所有組件、電纜及連線上的輻射發(fā)射，用來(lái)鑒定其輻射是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求，不會(huì)在正常使用過(guò)程中影響同一環(huán)境中的其他設(shè)備。

2、傳導(dǎo)騷擾測(cè)試

用于測(cè)量設(shè)備從電源端口、信號(hào)端口向電網(wǎng)或信號(hào)網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)尿}擾。

3、靜電放電抗擾度測(cè)試

測(cè)試單個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電放電干擾能力，它模擬：操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)的放電；無(wú)線電頻譜是一種有限的資源，但不是消耗性的，既要科學(xué)地管理，又要充分地利用。人或物體對(duì)臨近物體的放電。靜電放電可能產(chǎn)生以下后果：直接通過(guò)能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞；放電所引起的電場(chǎng)磁場(chǎng)變化，造成設(shè)備的工作出錯(cuò)；放電的噪聲電流導(dǎo)致器件的工作出錯(cuò)。

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電磁兼容檢測(cè)

電磁兼容性（EMC）是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。電磁干擾不僅影響電子設(shè)備的正常工作，甚至造成電子設(shè)備中的某些元器件損害。它涉及電子、電機(jī)、信息、通信等各類產(chǎn)品，隨著上述產(chǎn)品在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，除了使用者對(duì)電磁兼容性有質(zhì)量要求外，各國(guó)政府也積極制定相關(guān)規(guī)范進(jìn)行管制。

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電磁兼容性測(cè)試

電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)，要求電子電機(jī)設(shè)備相關(guān)產(chǎn)品必須符合輻射的干擾與傳導(dǎo)干擾發(fā)射規(guī)格，以及輻射耐受性與傳導(dǎo)耐受性規(guī)格。小電容可以將不期望的高頻電流在其進(jìn)入敏感電路之前或在其離MTD2002噪聲電路較遠(yuǎn)時(shí)就將其短路到機(jī)殼上去。為了驗(yàn)證電子電機(jī)設(shè)備EMC設(shè)計(jì)是否良好，必須在研發(fā)之整個(gè)過(guò)程中，對(duì)各種電磁干擾源之發(fā)射的干擾、傳輸特性及受干擾設(shè)備能否負(fù)荷耐受性測(cè)試，驗(yàn)證設(shè)備是否符合相關(guān)電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。電磁兼容性測(cè)試包含電磁干擾測(cè)試(EMI)及電磁耐受性測(cè)試(EMS)CE 表示可以傳導(dǎo)發(fā)射(Conducted Emission)，CS 表示傳導(dǎo)耐受性(Conducted usceptibility)，RE表示輻射發(fā)射(Radiated Emission)，RS 表示輻射耐受性(Radiated Susceptibility)

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電磁兼容的容性解決方案

一種常見(jiàn)的現(xiàn)象是不把濾波電容的一側(cè)看成直接與一個(gè)分離的阻抗相連，而看成與傳輸線相連。典型的情況是，當(dāng)一條MTD2002輸入輸出線的長(zhǎng)度達(dá)到或超過(guò)1/4波長(zhǎng)時(shí)，該傳輸線變“長(zhǎng)”。實(shí)際可以用下式近似表示這種變化：

l≥55/f

式中：l單元為m，f單位為MHz。這個(gè)公式考慮了平均傳播速度，它是開(kāi)關(guān)電源模塊自由空間理論的0.75倍。

a. 電介質(zhì)材料及容差

電磁干擾濾波使用的大部分電容是無(wú)極性電容。

b. 差模(線到線)濾波電容性電容。

c. 共模(線到地/機(jī)殼)濾波電容

共模(CM)去耦通常使用小電容(10～100nF)。小電容可以將不期望的高頻電流在其進(jìn)入敏感電路之前或在其離MTD2002噪聲電路較遠(yuǎn)時(shí)就將其短路到機(jī)殼上去。射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試通常情況下設(shè)備的引線長(zhǎng)度可能與干擾頻率的幾個(gè)波長(zhǎng)相當(dāng)，這些引線就可以通過(guò)傳導(dǎo)方式對(duì)設(shè)備產(chǎn)生干擾，沒(méi)有傳導(dǎo)電纜的設(shè)備不需要做此項(xiàng)測(cè)試。為了得到良好的高頻衰減電路，減小或消除寄生電感是關(guān)鍵之所在。因此有必要使用超短導(dǎo)線，尤其希望使用無(wú)引線元器件。

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