FE3000廠家值得信賴 大塚電子有限公司

FE3000反射式膜厚量測(cè)儀:主要測(cè)試項(xiàng)目：量子效率測(cè)定，量子效率的激發(fā)波長依賴特性，發(fā)光光譜、反射光譜測(cè)定，透過、吸收光譜測(cè)量，PL激發(fā)光譜，顏色演算（色度、色溫、演色性等）利用二次激發(fā)熒光校正功能去除再激發(fā)熒光發(fā)光。

解析非線性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/適化法

基板解析/里面反射補(bǔ)正/各類nk解析模型式

絕i對(duì)反射率/解析結(jié)果Fitting/折射率n的波長相關(guān)性/消光系數(shù)k的波長相關(guān)性

3D顯示功能（面內(nèi)膜厚分布、鳥窺圖、等高線、斷面圖）

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測(cè)試的系統(tǒng)。

光纖在極度彎曲后會(huì)有可能發(fā)生斷裂。故,請(qǐng)將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內(nèi)，然后放入積分半球內(nèi)。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上（使用溫控系統(tǒng)時(shí)用無磁鐵的夾具固定）。Xe激發(fā)光（投光光纖）的照射位置可由積分球上方放置的監(jiān)控窗口（圖上顯示）來進(jìn)行確認(rèn)。請(qǐng)將激發(fā)波長設(shè)置到可視光范圍內(nèi)確認(rèn)。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

關(guān)于冷卻水的更換沒有特定的時(shí)間要求，可目視，發(fā)現(xiàn)水有污垢時(shí)請(qǐng)更換冷卻水。更換時(shí)請(qǐng)用自來水或是軟水（不可使用純水，如使用純水，會(huì)和空氣中的CO2結(jié)合形成酸性環(huán)境，從而導(dǎo)致冷卻裝置內(nèi)部遭到腐蝕）。