光譜膜厚儀服務為先

一六儀器  X-RAY測厚儀研發生產廠家,歡迎來電咨詢!

測厚儀,多薄多復雜組合的鍍層分析,一六儀器研發生產的儀器都能滿足您的使用!

一六儀器提供的測厚儀可測試面積0.002mm?和80mm深槽的樣品

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

  測量注意事項：⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

能量色散X射線熒光光譜儀技術原理

江蘇一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 

穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線的發生與特征當用高能電子束照耀樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負的加快度會發生寬帶的延續X射線譜，簡稱為延續潛或韌致輻射。

另一方面，化學元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內層電子被激起，則當外層電子躍遷時，就會出特征X射線。

能量色散X射線是一種別離的不延續譜.假如激起光源為x射線，則受激發生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征X射線顯示了特征能量色散X射線熒光光譜儀發生的進程。

當人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。這一互相效果進程被稱為光電效應，被打出的電子稱為光電子。經過研討光電子或光電效應可以取得關于原子構造和成鍵形態的信息。

一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發生產的X熒光光譜儀,穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測厚儀操作規程有哪些？測厚儀在使用過程中，如果操作不規范，很容易導致測厚儀出現故障及問題，因此我們在使用前都需要先了解下測厚儀的操作規范及一些常見問題的處理方法：

四.安全衛生

1、源需由專人保管；

2、應有妥善的保管場所（有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜，距生活區一米遠）；

3、長期不使用時,應放置保管場所；

4、衛生

5、應定期清理主機和探頭外表面，對源鉛罐上表面也要定期清理。

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X射線測厚儀測量精度的影響因素

X射線源的衰減對于工廠現場的的標定過程中,隨著使用時間的增加,燈管的曲線會發生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時間的遞加,厚度偏差會越來越大,因此,X射線源的衰減,是影響測量精度的一個主要原因。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。除了正常使用過程中X射線源會出現衰減,在出現某些故障是,也會發生突發性的衰減,出現標準化通過不過,反饋的電壓與工廠現場標準電壓相差巨大,發生這種情況,X射線測厚儀的測量精度肯定是不準確的。