芯片檢測專用顯微鏡公司性價比出眾「多圖」

芯片檢測顯微鏡的配置

芯片檢測顯微鏡配有大移動范圍的載物臺、落射照明器、平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。適用于學校、科研、工廠等部門使用。

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芯片檢測顯微鏡——機構機械載物臺

芯片檢測顯微鏡的機械載物臺可在XY方向進行平滑移動。由于這種機構是內置式設計，而不是附加而不是附加的，因而X向導軌不會突出載物臺臺面，這種設計增大了載物臺上方的空間，使對標本操作變得更方便、快捷，同時，載物臺在X軸的移動也更加平滑和精密。載物臺表面光滑，使載玻片能夠更平滑、自如地移動。

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芯片檢測顯微鏡——芯片檢測

倒裝芯片封裝的不良狀況無損分析

在倒裝芯片的焊接中，組裝后的焊接部分和模塊無法用可見光檢查。但是如果使用近紅外線顯微鏡，則可以在不破壞封裝的前提下，透過硅觀察IC芯片內部。只要置于顯微鏡下，就可以輕松進行不良狀況分析。對必需用FIB（Focused Ion Beam）處理位置的也很有效。

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