廢舊電容回收信賴推薦 宏勝

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正溫度系數熱敏電阻(PTC)的檢測。檢測時，用萬用表R×1擋，具體可分兩步操作：

A 常溫檢測(室內溫度接近25℃)；將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測出其實際阻值，并與標稱阻值相對比，二者相差在±2Ω內即為正常。實際阻值若與標稱阻值相差過大，則說明其性能不良或已損壞。

B 加溫檢測；在常溫測試正常的基礎上，即可進行第二步測試—加溫檢測，將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對其加熱，同時用萬用表監測其電阻值是否隨溫度的升高而增大，如是，說明熱敏電阻正常，若阻值無變化，說明其性能變劣，不能繼續使用。注意不要使熱源與PTC熱敏電阻靠得過近或直接接觸熱敏電阻，以防止將其燙壞。(1)、測量標稱電阻值Rt用萬用表測量NTC熱敏電阻的方法與測量普通固定電阻的方法相同，即根據NTC熱敏電阻的標稱阻值選擇合適的電阻擋可直接測出Rt的實際值。

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BGA器件的結構可按焊點形狀分為兩類：球形焊點和校狀焊點。BGA技術的出現是IC器件從四邊引線封裝到陣列焊點封裝的一大進步，它實現了器件更小、引線更多，以及優良的電性能，另外還有一些超過常規組裝技術的性能優勢。對于表面無任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷，可借助萬用表R×1擋來測量，為保證測量準確，應將熔斷電阻器一端從電路上焊下。這些性能優勢包括高密度的I/O接口、良好的熱耗散性能，以及能夠使小型元器件具有較高的時鐘頻率。

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超過三個圖像切片就能夠獲得不可拆BGA的焊接點情況，“印刷電路權焊料切片”中心定位于印刷電路板焊盤界面上，低共熔點焊料焊接輪廓內，“焊料球切片”中心定位引線焊球(lead solder ball)內，“元器件焊盤切片”中心定位于元器件界面的低共熔點焊料焊接輪廓線內。可拆卸BGA焊接點，通過兩個或者更少的圖像“切片”就可以反映其全部特征，圖像“切片”中心可以定價于印刷電路板的焊盤界面處，也可以是在元器件界面處或者僅僅是在元器件和印刷電路板之間的一半位置處。集成電路損壞的特點集成電路內部結構，功能，一部分損壞都無法正常工作。