FE3000膜厚儀給您好的建議,蘇州大塚電子有限公司

光纖在極度彎曲后會有可能發生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內，然后放入積分半球內。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上（使用溫控系統時用無磁鐵的夾具固定）。Xe激發光（投光光纖）的照射位置可由積分球上方放置的監控窗口（圖上顯示）來進行確認。請將激發波長設置到可視光范圍內確認。

熒光材料樣品所反射的激發光，在積分球內壁上反射，并再次照射到熒光材料樣品上，發出熒光的現象叫做再激發。為了修正這個熒光發光的成份，如圖所示，改變Xe激發光（投光用光纖）的角度，將激發光的照射點改為樣品口的硫i酸鋇（或Spectralon）一面來進行測試。這樣可以將對積分球內壁上漫反射引起的再激發熒光成份進行測試，實行修正。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

 積分全球/半球 ，在遭受到強大的沖擊力后有可能會產生變形甚至損壞。對于這種情況，我司將不承擔責任。積分半球的內側涂有硫酸i鋇或者是Spectralon，受到污染后如需要交換可與我司聯系。貨期大約為1.5個月左右。

應用范圍■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有機EL)

■ 半導體、復合半導體

?矽半導體、半導體雷射、強誘電、介電常數材料

■ 資料儲存

?DVD、磁頭薄膜、磁性材料

■ 光學材料

?濾光片、抗反射膜

■ 平面顯示器

?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

量測范圍玻璃上的二氧化鈦膜厚、膜質分析