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大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

膜厚儀測試時有關輻射安全注意事項

幅射安全方面膜厚儀由于使用X射線管而產生輻射。測量頭的設計完全符合國際X射線安全要求：　　·測量頭控制臺上的一個鑰匙開關通過打開或關閉X射線管上的高壓決定X幅射的產生與否；　　·一個多級故障自動保險互鎖系統可控制X幅射的產生，從而有效保護操作者的安全；　　·如果測量門沒有完全關閉，X幅射就不會進入測量室；　　·足夠的遮罩用來減小外部的幅射量。

1.膜厚測試儀出現下列情況，必需重新校準。　　·校準時，輸入了一個錯誤值；　　·操作錯誤。　　2.在直接方式下，如果輸入了錯誤的校準值，應緊接著做一次測量，隨后再做一次校準，即可獲取新值消除錯誤值。　　3.每一組單元中，只能有一個校準值。　　4.零點校準和二點校準都可以重復多次，以獲得更為精準的校準值，提高測量精度但此過程中一旦有過一次測量，則校準過程便告結束。

膜厚測試儀的預熱 　　關機超過3個小時開機必做。點擊“波數”，將波譜校準片放入儀器，將Ag部分移至十字線中間，鐳射聚焦，設定測量時間為6S重復測量次數為30~50次,點擊Go鍵，等待自動連續測量完成。