FE3000價格值得信賴

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

基本規(guī)格

(1) 測試樣品及環(huán)境

(a) 樣品：粉狀樣品

(2) 儀器的功能

(a) 激發(fā)熒光樣品，對熒光光譜進(jìn)行測試。

(b) 為了消除積分球內(nèi)反射的激發(fā)光而激發(fā)的熒光，配有“再激發(fā)修正”功能。

(c) 具有對樣品的量子效率、反射、吸收作測試的功能。

(d) 樣品設(shè)置采用手動方式。

(e) 可實現(xiàn)控溫和量子效率測試同步進(jìn)行的功能。

(3) 儀器的構(gòu)成

(a) 暗箱內(nèi)部置有積分球光學(xué)系統(tǒng)。

(4) 溫控單元

(a) 50 ℃～300℃(cell部分)

(b) 采用加熱器加熱、風(fēng)冷制冷。

(c) 溫控部分的周圍采用冷卻水循環(huán)、斷熱。

(d) 控制用溫度探頭是一個具備獨立的防止過度升溫的溫度探頭。

關(guān)于冷卻水的更換沒有特定的時間要求，可目視，發(fā)現(xiàn)水有污垢時請更換冷卻水。更換時請用自來水或是軟水（不可使用純水，如使用純水，會和空氣中的CO2結(jié)合形成酸性環(huán)境，從而導(dǎo)致冷卻裝置內(nèi)部遭到腐蝕）。

產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

應(yīng)用范圍■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有機EL)

■ 半導(dǎo)體、復(fù)合半導(dǎo)體

?矽半導(dǎo)體、半導(dǎo)體雷射、強誘電、介電常數(shù)材料

■ 資料儲存

?DVD、磁頭薄膜、磁性材料

■ 光學(xué)材料

?濾光片、抗反射膜

■ 平面顯示器

?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

 原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對光譜進(jìn)行測量。