涂層測厚儀歡迎來電

一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發生產的X熒光光譜儀,穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

性能優勢：

   下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

   率的jie shou qi ：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。

   EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

涂層測厚儀操作規程有哪些

 我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規程，那么就很容易出現一些問題，甚至嚴重的可能會對自身產生威脅，那么涂層測厚儀的操作規程有哪些，下面就來了解下先：

三、操作步驟

4. 判斷是否需要校準儀器。如果需要，選擇適當的校準方法進行校 準；

  5.  測量。將測頭垂直接觸工件的測量面，并輕壓測頭的加載套，當 測頭與被測工件表面接觸穩定后，隨著一聲蜂鳴聲，屏幕將顯示標識和測量值。如果測量標識閃爍或無測量標識則表示測頭不穩定.移開測頭后，測量標識消失，厚度值保持。

  6.  儀器關機

影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些

    影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些？生產產品過程中，可能就因為一點點的誤差，可能這批產品就成了報廢品，而這種情況在批量生產的廠家中為常見，也是需要注意的一個點。因此我們也就得對影響涂層測厚儀精準度的因素有所了解了。

(2)強磁場的干擾。我們曾做過一個簡單實驗，當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會受到嚴重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發生死機現象。

   (3)人為因素。這中情況經常會發生在新用戶的身上。涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉化成為數字信號。

X射線熒光分析儀的應用

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發生產廠家 品質保證

江蘇一六儀器有限公司研發的能量色散X熒光光譜儀具有穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

X射線熒光分析儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產品和材料質量進行無損檢測，對人體進檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段，也是材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。同時，X 射線熒光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面shou  xuan器之一。