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詳細分享校準紅外線氣體分析儀

　校準紅外線氣體分析儀目的是為了確保安全生產過程用于監視生產氣體中某種氣體體積濃度的儀器的準確性，特質定本自校規程?！　”疽幊桃幎思t外線氣體分析儀的技術要求，校準設備，校準方法和校準結果的處理，本規程僅適用于具規定范圍內的紅外線氣體分析儀的校準。

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紅外線氣體分析儀用途及應用范圍：

紅外線氣體分析儀器用于連續分析CO、CO2、SO2、CH4、NH3等多種氣體在混合物中的含量。該產品為全數字化處理，在指標及功能上均有很大提高。產品應用領域廣泛，如：化工、石油、冶金等工業，也可應用于環保、農業、醫學衛生等部門，還可用于科研、學校、實驗室分析。

1．用于大氣及污染源排放檢測；

2．用于石油、化工、電站、鋼鐵、焦炭、水泥等工業過程控制；

3．用于農業、醫學衛生和科研等領域等。

紅外線氣體分析儀的測量誤差分析

所謂干擾組分就是指與待測組分特征吸收波帶有交叉或重疊的其他組分。為了消除干擾組分的干擾，準確檢測待測組分的濃度，可采取多種措施，如設置濾波氣 室、或干涉濾光片，使這些干擾組分特征吸收波帶的光在進入測量氣室或檢測器之前就被吸收掉，只讓待測組分特征吸收波帶的光通過。

　　水分干擾：水分廣泛存在于工藝氣體中，生產狀態的變化，預處理運行的變化，環境溫度、壓力的變化，都會使進入分析儀中的氣樣的含水量發生變化。水分在 1~9μm波長范圍內幾乎有連續的吸收帶，其吸收帶和許多組分特征吸收波帶重疊在一起。當兩者的吸收波帶重疊時，即使采取前述措施，也難以消除水分干擾帶 來的測量誤差。因為這些措施對水分和被測組分的作用是完全相同的，由于氣樣中水分的含量會隨時變化，所以很難估計其對測量誤差的影響。減少或降低水分對待 測組分的干擾，目前的有效辦法是在預處理系統中除水脫濕，降低氣樣的露點。常用的辦法是采用帶溫控系統的冷卻器降溫除水。