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發(fā)布時間:2020-11-17 08:37  
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5、程序燒制
在前期的DFM報告中,可以給客戶建議在PCB上設(shè)置一些測試點(Test Points),目的是為了測試PCB及焊接好所有元器件后的PCBA電路導(dǎo)通性。如果有條件,可以要求客戶提供程序,通過燒錄器(比如ST-link、J-link等)將程序燒制到主控制IC中,就可以更加直觀地測試各種觸控動作所帶來的功能變化,以此檢驗整塊PCBA的功能完整性。歡迎各新老客戶前來我廠洽談業(yè)務(wù),了解更多請咨詢深圳市恒域新和電子有限公司。
6、PCBA板測試
對于有PCBA測試要求的訂單,主要進(jìn)行的測試內(nèi)容包含ICT(In Circuit Test)、FCT(Function Test)、Burn In Test(老化測試)、溫濕度測試、跌落測試等,具體根據(jù)客戶的測試方案操作并匯總報告數(shù)據(jù)即可

昨天在知乎里面提了個問題“電子元器件存放多久后需要重新評估焊錫性,有沒有標(biāo)準(zhǔn)定義?”,一天下來發(fā)現(xiàn)大家其實針對這個問題都沒有好好的研究過,所以今天在這里好好的跟大家討論討論關(guān)于電子元器件在運輸與存儲方面的一些標(biāo)準(zhǔn),以及標(biāo)準(zhǔn)要求。
首先,我們先聊一下研究這個問題的背景,前不久我的一位從事供應(yīng)商質(zhì)量管理的朋友碰到了個麻煩事情,他們SMT在打板時發(fā)現(xiàn)有一個批次的MOSFET發(fā)生大批量拒焊問題,所以判定為零件長期未使用造成了元器件的焊錫性失效,但問題是制造商并沒有將相應(yīng)MOS的保質(zhì)期寫在零件的規(guī)格書中,所以導(dǎo)致這位SQE也沒辦法判定,是否為真的過期導(dǎo)致。同時較大的封裝面積對內(nèi)存頻率、傳輸速率、電器性能的提升都有影響,而且引腳在插拔過程中很容易被損壞,可靠性較差。