MCPD光譜儀設備常用解決方案 蘇州大塚電子公司

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

近紅外光譜儀的優勢

樣品一般不需要預處理且操作簡單

由于近紅外光譜吸收強度弱，允許樣品有更大的測量厚度，它可以使光線深入到樣品中，樣品不用特別均勻，不需要使用化學試劑或高溫、高壓、大電流等測試條件，分析后不會產生化學、生物或電磁污染。且近紅外光譜儀的操作和維護簡單，對操作員的素質水平要求較低。通過軟件設計可以實現極為簡單的操作要求，在整個測量過程中引入的人為誤差較小。靈活堅固的光纖搭配多元的選配附件，可架設于生產線上、真空環境或嵌入于現有設備中即時性量測。

紫外吸收光譜有多種表示方法，圖形隨表示方法不同而異。有以logε作縱坐標，波長為橫坐標；對于鋁、銅等各類有色金屬樣品而言，只需用小車床除去表面的氧化物即可。有橫坐標為波數和頻率；有以波長作橫坐標，縱坐標分別為摩爾消光系數ε，吸光度和百分透光率的。自動分析儀描繪的曲線其縱坐標為投射比T或吸光度A，此曲線高度隨溶液濃度而變，適用于定量分析。

各種因素對吸收譜帶的影響表現為譜帶位移、譜帶強度的變化、譜帶精細結構的出現或消失等。譜帶位移包括藍移（或紫移，hypsochromic shift or blue shift))和紅移(bathochromic shift or red shift)。藍移（或紫移）指吸收峰向短波長移動，紅移指吸收峰向長波長移動。吸收峰強度變化包括增色效應(hyperchromic effect)和減色效應(hypochromic effect)。前者指吸收強度增加，后者指吸收強度減小。近紅外光譜技術（NIR）是90年代以來發展最快、最引人注目的分析技術之一。各種因素對吸收譜帶的影響結果總結于右圖中。

AOI技術領域非常廣泛，廣義的AOI設備為結合光學傳感系統、訊號處理系統及分析軟件，應用層面可包括宇宙探測、航空、衛i星遙測、生物醫學、工業生產品質檢測、指紋比對、機器人控制、多媒體技術。