OPTM膜厚儀價(jià)格優(yōu)惠報(bào)價(jià)

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膜厚儀一般來(lái)說(shuō)和涂層測(cè)厚儀是一類產(chǎn)品。

膜厚儀一般是測(cè)氧化膜層厚度，常見(jiàn)的鋁基，銅基氧化，測(cè)量時(shí)候用涂層測(cè)厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測(cè)鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。

涂層測(cè)厚儀正常情況下有兩種測(cè)量原理，配F合N探頭，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測(cè)厚儀誤差比較大，需要用的涂層測(cè)厚儀測(cè)量氧化層，比如中科樸道的PD-CT2涂層測(cè)厚儀就可以測(cè)量氧化層。