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廣州勱博——粒度計數儀經銷

進性與：Multisizer Series庫爾特計數及粒度分析儀用于美國NASA太空總署從月球上采集的土壤樣品的粒度分析及顆粒計數；LS Series 激光粒度儀用于美國NASA太空總署發射火星車的火箭i燃料成份的粒度控制的分析。產品已成為“高準確性”、“高分辨率”的代名詞，在用戶中享有盛譽。在粒度分析行業發展中一直發揮著深遠的影響力，更具有當之無愧的領導地位。

   儀器能實時準確地測量所在環境的微粒數量和分布，并進行各種測量參數設定，如自動實時顯示，粒徑選擇，定時、延i時和重復測量，平均測量。時間和日期設定、數據存儲和打印、計數超限報警等功能均由內置微機控制和實現，可監測激光粒子傳感器的工作狀態。

貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平，升級版PIDS專利技術（專利號：4953978；5104221）、優化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高，結果更準確，再現性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。PIDS技術，真正實現10nm粒徑測量；新型的干、濕進樣模塊，“即插即用”，滿足不同的分析要求，靈活便利。

廣泛適用于材料、化工、制藥、精細陶瓷、造紙、化妝品、冶金等行業以顆粒物作為生產原料或中間體的實驗室分析和工業生產中質量控制等諸多領域。WJL激光粒度儀具有結構緊湊、體積小巧，操作簡便等顯著特點，采用計算機自動控制運用Mie散射理論測量方法。

貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀LS 13 320 XR主要特點優于ISO 13 320技術標準符合FDA的21 CFR Part 11標準檢測器數量更多，高達132枚獨立物理位置檢測器，對應高達136個真實數據通道，能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、準確的真實粒度測量。專利設計的“X”型對數排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，不管單峰、多峰，準確分析粒度分布。

僅需3mL樣品即可獲得完i美的 HIAC 計數結果可快速獲取結果提高了實驗室的處理時間，利用內置的菜單驅動標準可在一分鐘內處理樣品并報告顆粒數HIAC 無與i倫比的準確性、可靠性和售后服務。HIAC 8012 是業內主力！HIAC 8012 液體顆粒計數器憑借業界內堪稱的支持和服務水平， 以及超過25年的現場使用經驗，成為行業內的標準，其可靠性傲視全球。 符合 ISO 4406， NAS 1638 標準和用戶自定義測試標準 MTD、 ACFTD以及 ISO 11171 顆粒計數標準。

全自動運算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報告。升級版PIDS技術提供創新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現10nm下限峰值測量。PIDS技術不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強大，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。

檢測精密度：集電子光學、電源電路、試品超聲波分散化、循環系統、清理集成化構造，粒度計數儀多少錢，試品在管路內的流動性速度快，防止了試品分散化后的層次和再次團圓。相對標準偏差、可靠性超過國外同類型儀器設備精i確測量水準，D50粒度相對標準偏差偏差超過1％測試標準：運動控制系統自動式實際操作，只需按1個鍵， 試品分散化池中會全自動漏水。