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掃描隧道顯微鏡的工作情況

AFM的工作情況 　　掃描隧道顯微鏡在工作時，就如同一根唱針掃過一張唱片，一根探針慢慢地接近要被分析的材料（針尖極為尖銳，僅僅由一個原子組成）。一個小小的電荷被放置在探針上，一股電流從探針流出，通過整個材料，到底層表面。當探針通過單個的原子，流過探針的電流量便有所不同，這些變化被記錄下來。通過繪出電流量的波動，人們可以得到組成一個網格結構的原子的美麗圖片。 帶你了解現代科研中的顯微鏡 　　STM使人類次能夠實時地觀察單個原子在物質表面的排列狀態和與表面電子行為有關的物化性質，在表面科學、材料科學、生命科學等領域的研究中有著重大的意義和廣泛的應用前景，被國際科學界公認為20世紀80年代世界十大科技成就之一。

1978年,一種新型顯微鏡的靈感,在一次談話中產生了

1978年，一種新型顯微鏡的靈感，在一次談話中產生了。一天，IBM公司蘇黎世實驗室的科學家羅雷爾向德國研究生賓尼希介紹他們實驗室的表面物理研究計劃。31歲的賓尼希提出，可以用隧道效應來研究表面現象啊！羅雷爾對他的想法很有興趣。于是，1978年底，羅雷爾就邀請賓尼希來到蘇黎世，一起研制利用隧道效應的顯微鏡。賓尼希和羅雷爾克服了重重困難，終于在1981年研制出掃描隧道顯微鏡。它是顯微技術的又一個革命性的進展，放大倍數達到數千萬倍。這種新型顯微鏡的革命性表現在，它是借助隧道效應研究材料表面。因此，它不使用透鏡，對樣品無破壞性，而且可以獲得三維圖像。

掃描隧道顯微鏡分辨率極高

掃描隧道顯微鏡分辨率極高，水平方向達到0.2納米，垂直方向更達到0.001納米，可以給出樣品表面原子尺度的信息。我們知道，一個原子的典型線度是0.3納米。對于單個原子成像來說，這樣的分辨率已經是足夠了。掃描隧道顯微鏡的發明，促進了生物科學、表面物理、半導體材料和工藝、化學作用的研究。掃描隧道顯微鏡技術還在繼續發展。例如，為了彌補掃描隧道顯微鏡只能對導體和半導體進行成像和加工這個缺陷，研制出能在納米尺度對絕緣體進行成像和加工的原子力顯微鏡。