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手持式光譜儀的常見問題解答

1、如何利用XRF技術進行檢測？

分析儀發出X射線。X射線撞擊到被測樣品，使樣品中的元素發出熒光，然后再返回到分析儀中的X射線探測器。分析儀對返回的X射線進行計數，并通過數學式運算，得出分析結果。

2、XRF分析儀的用途是什么？

XRF分析儀用于需要辨別材料的化學成分的應用中。便攜式XRF分析儀可在野外現場采用堪比實驗室的技術對那些龐大、笨重或運送成本很高的樣品進行檢測。在現場進行分析可以實時提供信息，使用戶迅速做出決策。

手持式光譜儀——常見問題解答

XRF分析儀探測什么？

手持式XRF分析儀可以探測從鎂（Mg）到鈾（U）的元素。XRF分析儀幾乎可以指向任何樣件進行檢測，并獲得準確的結果。使用分析儀完成的常見應用包括廢料分揀、辨別、金屬制造業的質量控制（QC）、地質勘探、工業材料的檢測，如：水泥或煤炭等，以及消費產品的檢測，以發現漆層中的鉛或其他污染物。

造成手持式光譜儀系統誤差的因素有哪些？

手持式光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時，所得結果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。

1、標樣和試樣中的含量和化學組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。

2、澆注狀態的鋼樣與經過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態的鋼樣金屬組織結構不相同時，測出的數據會有所差別。

3、標樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發的特征譜線會有差別從而產生系統誤差。

4、未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統誤差。

5、要消除系統誤差，必須嚴格按照標準樣品制備規定要求。為了檢查系統誤差，就需要采用化學分析方法分析多次校對結果。