FE3000價格行業專家在線為您服務 大塚電子公司

本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行量子效率測試的系統。

FE3000反射式膜厚量測儀特點：寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應顯微鏡下的微距量測口徑。不銹鋼樣品池及石英材質光學窗口，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數量5個），尺寸直徑≤10mm

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

  下圖為積分半球光學系統。投光光纖和采光光纖的安裝位置、半球/全球積分球的種類會與實際情況有所不同。(本次系統采用的是積分半球)。

 積分全球/半球 ，在遭受到強大的沖擊力后有可能會產生變形甚至損壞。對于這種情況，我司將不承擔責任。積分半球的內側涂有硫酸i鋇或者是Spectralon，受到污染后如需要交換可與我司聯系。貨期大約為1.5個月左右。