紹興光譜膜厚儀量大從優 一六儀器1

X射線熒光光譜法原理研究

一六儀器  光譜測厚儀研發生產廠家  一六儀器一liu品質,可同時檢測多層材料鍍層厚度(含有機物)及成分.操作簡單方便.厚度含量測試只需要幾秒鐘,多小多復雜的樣品輕松搞定,歡迎來電咨詢!

X射線

   德國物理學家倫琴在研究稀薄氣體放電實驗時，采用了一種特殊裝置，此裝置發射電子，在陰極相對的位置裝置金屬陽極，在陰陽兩極之間加以高電壓，當容器充有稀薄氣體時，氣體中可觀察到放電現象，試驗中發現的這種未知射線，倫琴命名為X射線。在這個過程中,操作者首先對板材進行測量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會造成補償值的大小不等,會形成人為的誤差。對X射線定義為：電子在原子核附近加速或核外內層電子能級間發生躍遷時所發射的電磁輻射。

一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發生產的X熒光光譜儀,穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

涂層測厚儀操作規程有哪些

   我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規程，那么就很容易出現一些問題，甚至嚴重的可能會對自身產生威脅，那么涂層測厚儀的操作規程有哪些，下面就來了解下先：

  一、技術參數

  采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應的測頭，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；

  測量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測頭），F10測頭可達10mm；

  分辨率：0.1μm（F1、N1測頭）

  示值精度：±（3％H 1）μm；H為被測涂層厚度

  顯示方法：高對比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；

  存儲容量：可存儲20組（每組多50個測量數值）測量數據

  單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉換 ? 工作電壓：3V（2節5號堿性電池）

  持續工作時間：大于200小時（不開背光燈）

  通訊接口：USB1.1，可與PC機連接、通訊

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。eX射源安裝完畢，在開啟的狀態下，對周圍的射線輻射劑量進行檢測，在安全區不得超過人體當量的允許值（一般情況下是安全的）。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當X射線激發出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內層電子激發態從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內層電子的功函數。插拔測頭時，應捏住活動外套沿軸線用力，不可旋轉測頭，以避免損壞測頭電纜芯線。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發原子內層電子并產生特征X射線。

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儀器規格：

 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

 儀器重量 ：55kg

 供電電源 ：交流220±5V

 da功率 ：330W

 環境溫度：15℃-30℃

 環境相對濕度：<70%

X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

第四,在生產過程中,補償值也會對X射線測厚儀的測量精度造成影響。我們利用測厚儀測量是,會事先給測厚儀輸入一個補償值,讓測量值與實際值相等。X射線的激發如果要得到某元素的特征X射線，需要對元素原子內層電子進行激發，使得內層電子獲得一定能量，能夠脫離原子核的束縛，從而在內層軌道形成電子空穴，當較高能級電子填補這一空穴時，才會發射一定能量的特征X射線，這個過程就是X射線的激發。在這個過程中,操作者首先對板材進行測量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會造成補償值的大小不等,會形成人為的誤差。只有在進行測量時,操作者認真操作,減少補償值得測算誤差,使補償值接近真實值,提高X射線測厚儀的測量精度。