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              FE3000推薦

              【廣告】

              發布時間:2020-08-05 09:03  

              本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行量子效率測試的系統。

              FE3000反射式膜厚量測儀特點:寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應顯微鏡下的微距量測口徑。不銹鋼樣品池及石英材質光學窗口,光學透過率大于98%,全波段無熒光反應,用于固體、粉末及薄膜樣品測試(數量5個),尺寸直徑≤10mm



              1)不銹鋼樣品池及石英材質光學窗口,光學透過率大于98%,全波段無熒光反應,用于固體、粉末及薄膜樣品測試(數量5個),尺寸直徑≤10mm

                   2)石英材質液體比色皿,光學透過率大于98%,全波段無熒光反應,用于液體樣品測試(3個)。尺寸:12.5mm*12.5mm*140mm

                   3)具有專用的液體容器定位裝置,可實現入射光垂直入射到容器表面。




              半積分球。大塚電子獨有專利,提高積分球測試效率一倍,更易于樣品的裝夾,切換迅速(世界范圍內獨i家);(2)多次激發修正。大塚電子獨有專利,i大程度降低樣品所反射的激發光再次照射樣品帶來的多次激發, 對粉末和固體測試精度提高明顯(世界范圍內獨i家);(3)光譜可擴展, 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統(-30℃-300℃)

              不銹鋼樣品池及石英材質光學窗口,光學透過率大于98%,全波段無熒光反應,用于固體、粉末及薄膜樣品測試(數量5個),尺寸直徑≤10mm


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              解析非線性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/適化法

              基板解析/里面反射補正/各類nk解析模型式

              i對反射率/解析結果Fitting/折射率n的波長相關性/消光系數k的波長相關性

              3D顯示功能(面內膜厚分布、鳥窺圖、等高線、斷面圖)



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