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帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡

場(chǎng)離子顯微鏡 　　場(chǎng)離子顯微鏡（Field ion microscope，F(xiàn)IM）是早達(dá)到原子分辨率，也就是早能看得到原子尺度的顯微鏡。 帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡 　　如果要用FIM看像，樣品得先處理成針狀，針的末端曲率半徑約在200-1000埃。工作時(shí)首先將容器抽到1.33×10^(-6)Pa的真空度，然后通入壓力約1.33×10^(-1)Pa的成像氣體例如惰性氣體氦。在樣品加上足夠高的電壓時(shí)，氣體原子發(fā)生極化和電離；在低溫環(huán)境下，熒光屏上即可顯示表層原子的清晰圖像，圖像中每一個(gè)亮點(diǎn)都是單個(gè)原子的像。 帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡 　　通過(guò)惰性氣體電離便可以觀察試樣表面的原子排列情況, 同時(shí)還可以控制試樣上的原子以離子形式蒸發(fā)離開(kāi)表面(稱為場(chǎng)蒸發(fā)） 　　簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，氣體原子在樣品的電離飛出打在熒光屏上，這些熒光屏上的點(diǎn)便表示了樣品（其實(shí)主要是半球形）的原子排布。因此，F(xiàn)IM被稱為原子級(jí)別的顯微鏡。

偏光鏡檢術(shù)的方式及要求

偏光鏡檢術(shù)的方式 正相鏡檢：又稱無(wú)畸變鏡檢，其特點(diǎn)是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡，同時(shí)為使照明孔徑變小，推開(kāi)聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。 錐光鏡檢：又稱干涉鏡檢，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。 顯微鏡的分類和特點(diǎn) 偏光顯微鏡在裝置上的要求 1、光源：采用單色光，因?yàn)楣獾乃俣龋凵渎屎透缮娆F(xiàn)像因波長(zhǎng)的不同而有差異。 2、目鏡：要帶有十字線的目鏡。 3、聚光鏡：為了取得平行偏光，應(yīng)使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。 4、伯特蘭透鏡：這是把物體所有造成的初級(jí)相放大為次級(jí)相的輔助透鏡。

超越原子級(jí)的分辨率,對(duì)理解重要的幾類材料非常關(guān)鍵

超越原子級(jí)的分辨率，對(duì)理解重要的幾類材料非常關(guān)鍵，比如超導(dǎo)體、磁體和催化劑等。理論上來(lái)說(shuō)，原子應(yīng)均勻地整齊排列，但原子的實(shí)際位置常常會(huì)有小的偏差，這使得材料可以存儲(chǔ)電荷、信息和能量，比如用作計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)芯片的鐵電氧化物（ferroelectric oxide）和用作固態(tài)燃料電池的電催化氧化物（electrocatalytic oxide）。納米金屬（nanophase metal）、陶瓷、合金、太陽(yáng)能電池、蓄電池和不同類型的玻璃，這些材料的原子排列非常復(fù)雜，現(xiàn)有技術(shù)還無(wú)法進(jìn)行觀測(cè)。

不同材料間的界面部分

不同材料間的界面部分，比如磁體與超導(dǎo)體的界面，或者氧化物與氧化物間的連接部分，都可能顯示出導(dǎo)電性、化學(xué)反應(yīng)活性、超導(dǎo)性和鐵磁性等性能，而這些性能是單獨(dú)一種材料所不具備的。因此，我們需要從三個(gè)維度分別對(duì)材料的鍵長(zhǎng)和鍵角進(jìn)行更精密的測(cè)量，從而更進(jìn)一步地研究材料性質(zhì)，以便將這些材料用于下一代能量和信息技術(shù)設(shè)備。