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              羅湖區數字ic設計工具介紹歡迎來電

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              發布時間:2020-07-25 16:59  






              IC常見的問題

              EM (electron migration,電子遷移)

              “電子遷移”是50年代在微電子科學領域發現的一種從屬現象,指因電子的流動所導致的金屬原子移動的現象。因為此時流動的“物體”已經包括了金屬原子,所以也有人稱之為“金屬遷移”。net)更重要的是,藉由這個方法可以增加Gate端和下層的接觸面積。在電流密度很高的導體上,電子的流動會產生不小的動量,這種動量作用在金屬原子上時,就可能使一些金屬原子脫離金屬表面到處流竄,結果就會導致原本光滑的金屬導線的表面變得凹凸不平,造成性的損害。這種損害是個逐漸積累的過程,當這種“凹凸不平”多到一定程度的時候,就會造成IC內部導線的斷路與短路,而終使得IC報廢。溫度越高,電子流動所產生的作用就越大,其徹底破壞IC內一條通路的時間就越少,即IC的壽命也就越短,這也就是高溫會縮短IC壽命的本質原因。

              NBTI 、HCI、TDDB

              這三個效應都跟MOSFET (metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor, 金屬氧化物半導體場效應管) 原理有關。

              罪魁禍首 : SiOHSiOH

              MOSFET原理是一個門極(Gate)靠靜電勢控制底下的導電溝道深度,電勢高形成深溝道電流就大,電勢低溝道消失就不導電了。稍微想深一層就知道這個門極導電底下的溝道也導電,那就必須中間有個絕緣介質把他們分開,否則就變成聯通線不是晶體管了。它與VCS一樣采用了革命性的模擬技術,即在同一個模擬器中把節拍式模擬技術與事件驅動的模擬技術結合起來。再想深一層就知道這個絕緣介質的做法是把硅氧化做二氧化硅。而行外人一般想不到的是光二氧化硅還不夠,工程上二氧化硅和基板硅之間附著很差,必須加入Si-H鍵把二氧化硅層拴住。所以實際上介質層和硅之間有一層不是純SiO2SiO2是SiOHSiOH,問題由此產生。








              4GHzCMOS全數字鎖相環

              隨著深亞微米CMOS工藝的發展,工藝尺寸的縮小使模擬電路的設計變得更加復雜,盡可能采用數字電路代替模擬電路成為發展的趨勢。所以說質量(Quality)解決的是現階段的問題,可靠性(Reliability)解決的是一段時間以后的問題。鎖相環作為時鐘產生電路是射頻通信系統中的關鍵模塊,其中全數字鎖相環具有良好的集成性、可移植性和可編程性,以及能夠實現較好的相位噪聲指標等優勢,得到了越來越廣泛的研究和發展。本文著重于2.4GHz CMOS全數字鎖相環的研究與設計,主要工作包括:

              1)首先分析并推導了全數字鎖相環的主要性能指標,接著分析了I型和II型全數字鎖相環的原理和結構特點,并分析了環路參數對整個環路特性與穩定性的影響。

              2)提出一種用于時間數字轉換器(Time-to-Digital Converter,TDC)的互補比較器的結構,在傳統比較器結構的基礎上,疊加一個與之互補的比較器,能夠消除輸出波形的毛刺,降低輸入失調電壓,提高比較器的工作速度,進而改善比較器的精度。相對而言,Reliability的問題似乎就變的十分棘手,這個產品能用多久,whoknows。




              3)提出一種可重構數字濾波器(Digital Loop Filter,DLF),將DLF的參數KP、KI做成芯片外的控制端口,通過片外手動調節來改變芯片內部的參數,可以改變全數字鎖相環的帶寬,開環和閉環響應,以及幅度響應等,終能夠方便地在片外調節,使環路達到鎖定狀態。在IC生產流程中,IC多由專業IC設計公司進行規劃、設計,像是聯發科、高通、Intel等大廠,都自行設計各自的IC芯片,提供不同規格、效能的芯片給下游廠商選擇。

              4)分析和設計了一款數控振蕩器(Digitally Controlled Oscillator,DCO),采用CMOS交叉耦合LC振蕩器,包括粗調、中調和精調三個電容陣列和ΔΣ調制器。“芯片”和“集成電路”這兩個詞經常混著使用,比如在大家平常討論話題中,集成電路設計和芯片設計說的是一個意思,芯片行業、集成電路行業、IC行業往往也是一個意思。其中,粗調單元采用MIM電容,中調和精調單元采用兩對反向連接的PMOS對管構成MOS電容,本文DCO的增益為300kHz左右,使用ΔΣ調制器后,DCO的分辨率可以達到5kHz左右。


              過程控制計算機軟件包

              發展強有力的程序測試系統,是提高程序可靠性的有效手段。但當前由于國內軟件包的問世,在測試范圍、測試要求和測試方法等方面,都提出了新的要求,原有的一般程序測試工具已不能獨立地、完整地完成測試任務。芯片規格,也就像功能列表一樣,是客戶向芯片設計公司提出的設計要求,包括芯片需要達到的具體功能和性能方面的要求。因此,就提出了設計新的測試系統的要求。本文主要是根據軟件包測試的新要求,提出了設計新的測試系統的一些準則。在此基礎上,進一步闡明如何根據這些準則,來組成一個測試系統;并以實例來說明這種系統的使用對加速程序測試和提高其可靠性是有效的;同時,使用也很方便。



              深圳瑞泰威科技有限公司是國內IC電子元器件的代理銷售企業,專業從事各類驅動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售,品類齊全,具備上百個型號。如果把中央處理器CPU比喻為整個電腦系統的心臟,那么主板上的芯片組就是整個身體的軀干。與國內外的東芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶準等均穩定合作,保證產品的品質和穩定供貨。自公司成立以來,飛速發展,產品已涵蓋了工控類IC、光通信類IC、無線通信IC、消費類IC等行業。


              IC設計方案行業的盆友都了解,數字集成電路所追求的并并不是加工工藝連接點。另外,前面提到的斷裂的Si-H鍵是可以自己恢復的,所以基于斷鍵的老化效應都有恢復模式。只是加工工藝,設計方案,板圖,實體模型,封裝這些全部全產業鏈上邊每個一部分的融合。而數字電路設計所追求的大量的則是系統架構圖,優化算法的提升,針對加工工藝則是無止盡的追求圖形界限少,功能損耗少,傳送延遲時間少。





              瑞泰威驅動IC廠家,是國內IC電子元器件的代理銷售企業,專業從事各類驅動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售,品類齊全,具備上百個型號。




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