光譜儀價格常用解決方案

速度和易用性

Admesy 堅信在開發和生產設備過程中速度和易用性是較核心的要素。為了達到這方面要求，Admesy 非常注重光譜儀的以下幾個方面：

波長校準

? 暗電流

? 線性度

? 絕i對校準

計算和補償都能在 14ms 內完成。這些能實現都得益于 Hera 自身的高速處理器及其獨有的運算方法。在生產過程中，不需要外界電腦的計算。數據可直接應用于生產設定且沒有任何延i時。這大大節省了操作系統在生產線上的處理時間。并且 Hera 光譜儀還具備自適應調節的功能：自動選擇良好積分時間。同時這個積分時間我們也可以手動調整。

光譜儀構成

一臺典型的光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分：

1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。

2. 準直元件: 使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。

5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

光譜儀的透射測定

光譜儀的透射率或它的效率可用輔助單色儀裝置來測定。在可見和近紫外實現這些測量沒有任何困難。測量通過第i一個單色儀的光通量，緊接著測量通過兩個單色儀的光通量，以這種方式來確定第二個單色儀的透射率。

絕i對測量需要知道單色儀的絕i對透射率：對于相對測量，以各種波長處的相對單位可以測量透射率。真空紫外線的這些測量有相當大的實驗困難，因此通常使用輔助單色儀。在各種入射角的情況下分別測量衍射光柵的效率。在許多實驗步驟中已成功地避免了校準上的困難。

曾經研究過光柵效率與波長、入射角、鍍層厚度、鍍層材料以及其它因素的關系。所有這些測量都指出，在許多情況下能量損失是非常顯著的，并且光柵的效率低于1%，光柵的不同部分可能有明顯不同的效率。