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發布時間:2020-12-10 04:34  
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大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
應用范圍■光學薄膜
?相位差膜、橢圓膜、相位差板
?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學材料
■液晶層
?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)
?反射型液晶層(TN,STN)
相位差光學材料量
產品特點:可更加精準的量測低相位差(0.1nm~)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀,展現任一個波長的相位差量測。
購買須知
1、廠家貨源正i品
日本原裝。
2、關于尺碼
按照出廠產品資料有說明。
3、關于顏色
4、關于客服
客戶全天24小時在線,如需緊急處理,請致電公司 。
5、關于售后
日本產品保修一年,消耗品不再維修范圍內。
本設備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell(TN,IPS,MVA)的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉stage的2個Sample stage。Calibration時,自動set基準sample。
本軟件,通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動XY平臺來實施cellgap檢查每個樣品都備有檢查菜單,并且樣品可自動運輸,操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。