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              臺州鍍層測厚儀歡迎來電

              發布時間:2020-08-08 14:07  

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              江蘇一六儀器   X熒光光譜測厚儀 特點

              快速:1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,并達到測量精度要求。

              方便:X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上先進的電制冷半導體探測器,能量分辨率更優于135eV,測試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產品更低。

              無損:測試前后,樣品無任何形式的變化。

              直觀:實時譜圖,可直觀顯示元素含量。

              測試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。

              可靠性高:由于測試過程無人為干擾因素,儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以,其測量的可靠性更高。

              滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統軟件,操作方便、功能強大,軟件可監控儀器狀態,設定儀器參數,并就有多種先進的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

              性價比高:相比化學分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的,可以讓更多的企業和廠家接受。

              簡易:對人員技術要求較低,操作簡單方便,并且維護簡單方便。


                   江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀

                   X射線熒光光譜測厚儀原理

                  一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 (10)-12-(10)-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時,所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,此稱為俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應,所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。8分析應用軟件操作系統:Windows2000中文平臺中文分析軟件包:SmartlinkFP軟件包。

                   它的能量是特征的,與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收,而是以輻射形式放出,便產生X射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,X射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。 K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中 任一電子所填充,從而可產生一系列的譜線,稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充,從而可產生一系列的譜線,稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。


              一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體

              元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

              一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

              選擇Elite(一六儀器)X射線熒光鍍層測厚儀理由:

                 根據IPC規程,必須使用整塊的標準片來校正儀器,對于多鍍層的測量,目前大多數客戶購買的測厚儀采用的是多種箔片疊加測量校正,比如測量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因為測量點很小,測量距離的變化對測量結果有較大影響,如果使用Au,Pd,Ni三種箔片疊加校正,校正的時候箔片之間是有空氣,并且Pb元素與空氣的頻譜重疊,以上會對測量結果產生較大影響,Elite(一六儀器)測厚儀有電鍍好的整塊的Au/Pd/Ni/base標準片,不需要幾種箔片疊加校正,可以確保鍍層測量的準確性。GD-OES方法用惰性原子逐層轟擊及剝離試樣表層,再用發射光譜測定,這種方法可實現剖面或逐層分析,但測量重復性并不理想。

              2、采用微聚焦X射線管,油槽式設計,工作時采用油冷,長期使用時壽命更長。微聚焦X射線管配合比例接收能實現高計數率,可以進行測量。

              3、Elite(一六儀器)WinFTM專用軟件,具有強大且界面友好、中英文切換,多可同時測量23層鍍層,24種元素,測量數據可直接以WORD格式或EXCEL格式輸出、打印、保存。采用基本參數法(FP),有內置頻譜庫,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確的分析和測量。不同的儀器在不同的領域各司其職,守護人類健康,為人類發展出力。

              4、 Elite(一六儀器)針對PCB(印制電路板)線路板上的鍍層厚度及分析而設計的X射線熒光測厚儀(XDLM-PCB200/PCB210系列)具有以下特點:1)工作臺有手動和程序控制供客戶選擇,2)采用開槽式設計和配置加長型樣品平臺,用于檢測大尺寸的線路板。如果入射的X射線使某元素的K層電子激發成光電子后L層電子躍遷到K層,此時就有能量ΔE釋放出來,且ΔE=EK-EL,這個能量是以X射線形式釋放,產生的就是Kα射線,同樣還可以產生Kβ射線,L系射線等。