ELSZ-ZETA電位測試多重優惠

此設備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。

粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，的ZETA電位測量，容量是130μL～的一次性cell。

用途：

陶瓷?色材工業領域

陶瓷（二氧化硅?氧化鋁?氧化鈦等）

無極膠體溶液的表面改質?分散?凝集控制

顏料（炭黑?有機顏料）的分散?凝集控制

懸濁狀樣品

彩色膜

浮遊選礦物的捕集材吸著的研究

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

粒徑測量原理：動態光散射法（光子相關法）

溶液中的粒子會呈現出 依賴于粒徑的布朗運動。因此，當光照射到此粒子上而得到的散射光會出現浮動，小粒子浮動速度快，大粒子浮動速度慢。

通過光子相關法解析這種浮動，從而求出粒徑或粒度分布。

高濃度類樣品的ZETA電位測量原理

因受多重散射或吸收等的影響，用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。

現在，ELSZseries的標準cell可對應低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且，通過采用了FST法*的高濃度類cell，可測量出高濃度樣品的ZETA電位。