鎮(zhèn)江鍍層測厚儀服務(wù)為先,一六儀器

發(fā)布時間：2021-05-02 14:02

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一六儀器專業(yè)測厚儀多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆

層測厚時采用。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。

波長色散型X射線熒光光譜儀的前面部分和能量色散型X射線熒光光譜儀是一樣的，X光管激發(fā)樣品，檢測器測量來自樣品的射線，但波長色散型X射線熒光光譜儀的檢測器和能量色散型X射線熒光光譜儀的檢測器不同。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。波長色散型X射線熒光光譜儀的計(jì)策系統(tǒng)由一套準(zhǔn)直器，衍射晶體和探測器組成，來自樣品的特征譜線照射到鏡頭上，晶體將不同波長(能量)的譜線衍射到不同的方向，（相當(dāng)于棱鏡將復(fù)合光分解成不同的單色光），將檢測器放置在一定的角度，就可測量某一波長的譜線強(qiáng)度。將分光晶體和探測器裝在測角儀上，使它在一定角度范圍內(nèi)轉(zhuǎn)動，一次測量不同波長長譜線的強(qiáng)度，使用這種形式的光譜儀稱為順序掃描式光譜儀。安裝固定檢測系統(tǒng)的稱為同時式光譜儀，每一套檢測系統(tǒng)都有自己的晶體和探測器，分別測量某一特定元素的譜線，各譜線的強(qiáng)度同時被測量，這就很容易理解為什么稱它為固定道波長色散型光譜儀，另外也有固定式和轉(zhuǎn)動式結(jié)合的儀器。X射線波長色散型光譜儀一般有光源（X-射線管）、樣品室

分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。