蔡司zeiss三坐標代理商詢問報價「北京一測」

蔡司三坐標測量機

蔡司MMZ M滿足苛刻的精度要求適用于復雜工件的橋式北京三坐標測量機

以有利的采購成本進行測星一這是開發蔡司MMZM時的目標。三坐標測量機非常適合檢查復雜的工件，特別是那些具有嚴格公差要求的工件。

蔡司MMZ M特點

機械工程師以及風力渦輪機和齒輪系制造商使用蔡司MMZM三坐標測量機。

高精度的測量

可抵抗惡劣的環境條件，以盡可能地減少對測量室的需求

大軸承間隙和穩定的橋架設計，可實現出色的掃描性能

REACH CFX 3 MMZ測針延長桿用于測量非常深的鉆孔(1,200mm)

需要注意的事

三坐標測量機在測量零件時，是用探針的寶石球與被測零件表面接觸，接觸點與系統傳輸的寶石球中心點的坐標相差一個寶石球的半徑，需要通過校驗得到的探針的實測半徑值，對測量結果補償修正。

在選擇三坐標測頭的過程中，常常出現是由預算決定配置，從而導致配置過剩或者配置不足的尷尬情況。

配置三坐標測量機的測頭時，實際會面臨來自多個方面的選擇困難，比如“固定式還是旋轉式”、“掃描測頭還是觸發測頭”、“三軸聯動還是五軸聯動”、“接觸式測頭還是光學測頭”等等，而且還逃不開預算的限制。雖然后一項因素有時能夠起到一票否決的作用，但我們有必要從技術角度了解各類測頭的特點及適用場合和限制，以便在綜合條件下能夠選到適宜的測頭，滿足測量要求。

觸發測頭

測點數目給了我們很清楚的指示，如果被測零件的測量要求中有關于圓度的測量需求，那需要使用掃描測頭。試想一下，如果1個圓的64個測點采用單點觸發式測頭來測量的話，其測量效率顯然是難以讓人接受的。從測量效率和合理性出發，事實上不僅是圓度，其它類型的形狀公差測量都應采用連續掃描測頭，否則難以準確地評價被測元素的形狀公差。

接觸式測頭采點

非接觸式光學測頭直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標，不存在半徑補償的環節，因此能夠完全余弦誤差產生的源頭。再者，在測量易變性零件時，雖然測力不大，但零件還是會在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片，測量頂部截面時，葉盆時葉片受到測力影響朝葉背方向彎曲，反之亦然)。雖然彎曲變形量不大，但是考慮到葉片本身極薄，其相對變形量還是非常可觀的，會對得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。