河北偏光顯微鏡定購服務介紹 迪卡爾

顯微鏡測量模式及比對模式,可搭配GSM

顯微鏡測量模式：具有測量模式及比對模式，可搭配GSM-C289A軟件進行分析。 1、繪圖——可以在計算機顯示器上很方便地觀察金相圖像，并對金相圖譜進行分析，評級等。結合光學影像量測系統，對工件進行高度的光學量測，并可以以EXCEL、WORD、TXT格式輸出做數據分析，并可以用DFX格式輸出在CAD中進行工程圖的設計。 2、 測量——可測量平面上的任何幾何圖形之尺寸（角度、長度、直徑、半徑、點到線的距離、圓的偏心、兩圓間距等） 3、 標注——可在實時影像中的實際工件上標注各種幾何尺寸。 4、 拍照——可拍下實物照片，包括所標注的尺寸。

顯微鏡比對模式

顯微鏡比對模式： 1、 可將實時影像中的實際工件進行拍照（包含影像上所標注的尺寸及線條圖形），并可以JPEG格式儲存于計算機中，形成產品圖庫。 2、 可將存于圖庫中的JPEG圖檔打開，并與同一畫面中實時的影像相互比對。 注： 1、影像式金相測量顯微鏡可將以往用肉眼在傳統顯微鏡下所觀察之影像將其數字化并轉換至計算機中作各式的繪圖及測量，再可將所得到的數據及圖形數據儲存于計算機中，以便數據存盤及電子郵件發送。 2、適用于微型芯片電路檢測、PCB板或其它金屬鍍層厚度檢測，金屬表面結構分析及其它高倍顯微檢測。用途：可供觀察和檢測各種PCB線路板、LCD液晶顯示板、金屬金相組織，研潤企業生產其舒適精致的鏡體機構、輕松快捷的操作方式，是工礦企業工業光學檢測儀器及學校金相教學用儀器的；流線型、高穩定性的鏡體設計，使用方便、功能齊全，適合在單偏光、正偏光及錐光下觀察礦物的晶體形狀、著色、干涉色等，并準確地鑒定各種礦物或其它晶體試樣薄片的光學性質。.

顯微鏡試樣制備浸蝕拋光后的試樣

顯微鏡試樣制備浸蝕 拋光后的試樣在金相顯微鏡下觀察，只能看到光亮的磨面，如果有劃痕、水跡或材料中的非金屬夾雜物、石墨以及裂紋等也可以看出來，但是要分析金相組織還必須進行浸蝕。 浸蝕的方法有多種，的是化學浸蝕法，利用浸蝕劑對試樣的化學溶解和電化學浸蝕作用將組織顯露出來。 1、顯微鏡的照明方式通常為落射照明，即光源通過物鏡投射于樣品上； 2、顯微鏡的光源為紫外光，波長較短，分辨力高于普通顯微鏡； 3、顯微鏡有兩個特殊的濾光片，光源前的用以濾除可見光，目鏡和物鏡之間的用于濾除紫外線，用以保護人眼。熒光顯微鏡用于研究細胞內物質的吸收、運輸、化學物質的分布及定位等。