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偏光顯微鏡的調整及安裝

一、 起偏振鏡位置的調整

起偏鏡一般安裝在可以轉動的圓框內，借助手柄轉動調節，調節的目的是為了使起偏振鏡出來的偏振光動面水平，以保證垂直照明器平面玻璃反射進入物鏡的偏振光強度，且仍為直線偏振光。

調整方法，是將經過拋光而未經腐蝕的不銹鋼試樣(光性均質體)放在載物臺上，除去檢偏振鏡，只裝起偏振鏡，從目鏡內觀察聚焦后試樣磨面上反射光的強度，轉動起偏振鏡，反射光強度發生明暗變化，當反射光強時，就是起偏振鏡振動軸的正確位置。

二、檢偏振鏡位置的調整

起偏振鏡位置調整好后，裝入檢偏振鏡，調節檢偏振鏡的位置，當在目鏡中觀察到暗的消光現象時，就是檢偏振鏡與偏振鏡正交的位置。在實際觀察中，常將檢偏振鏡作一個小角度的偏轉，以增加顯微組織的襯度。其偏轉的角度由刻度盤上的刻度指示出來。若將檢偏振鏡在正交位置轉動90°，則兩偏振鏡振動軸平行，這時和一般光線下照明的效果相同。

許多金相顯微鏡在出廠時已經把起偏振鏡或偏振鏡的振動軸的方向固定好，只要調節另一個偏振鏡的位置就可以了。

三、 物臺中心位置的調整

利用偏振光鑒別物相時，經常需要將載物臺作360°旋轉，為使觀察目標在載物臺旋圍時不離開視域，在使用前必須調節載物臺的機械中心與顯微鏡的光學系統主軸重合。一般是通過載物臺上的對中螺釘進行調整。

四、 偏振光照明下的色彩(色偏振)

以上都是討論在單色偏振光照明下的情況，如果考慮到偏振光波長的影響，即用白色偏振光照明，會產生色彩。

在金相顯微鏡中進行正交偏振光的觀察時，在光程中插入靈敏(目前多用λ=5760nm的全波片)后，各向異性的金屬不同晶粒會出現不同的顏色。觀察各向同性金屬時，不加入靈敏，也會有不同顏色，但色彩不豐富。加入全波片后，色彩變得鮮艷。

轉動載物臺或靈敏，晶粒的顏色隨之變化，這主要是由于偏振光干涉的結果。

偏光顯微鏡的注意事項

1．搬動顯微鏡時，要一手握鏡臂，一手扶鏡座，兩上臂緊靠胸壁。切勿一手斜提，前后擺動，以防鏡頭或其他零件跌落。

2．觀察標本時，顯微鏡離實驗臺邊緣應保持一定距離（5cm以上，至少一個橫放著的拳頭的寬度），以免顯微鏡翻倒落地。如使用鏡筒直立式顯微鏡，鏡柱與鏡臂間的傾斜角度不得超過45度，以防后移、顯微鏡傾倒，用完立即還原。

3．使用顯微鏡時要嚴格按步驟操作，熟悉顯微鏡各部件性能，掌握粗、細調旋鈕的轉動方向與載物臺升降關系。轉動粗調旋鈕向下時，眼睛必須注視物鏡鏡頭。在鏡檢前要對所觀察的目標物有個大致的判斷。鏡檢必須有足夠的耐心，必須將整個標本片仔仔細細的看完再下成功或失敗的論斷，除非有足夠的理由或把握判斷制片全砸了！

4．觀察帶有液體的臨時標本時要加蓋玻片，不能使用傾斜關節，以免液體污染鏡頭。

5．粗、細調旋鈕要配合使用，細調旋鈕不能單方向過度旋轉，調節焦距時，要從側面注視載物臺，以免壓壞標本和鏡頭。

6．使用顯微鏡觀察標本時，應雙眼同時睜開、雙手并用（左手操縱調焦旋鈕，右手操縱標本移動器），應一邊觀察，一邊記錄繪圖。

7．禁止隨意擰開或調換目鏡、物鏡和聚光器等零件，以免丟失或損壞。目鏡不能隨便取出，以防灰塵落入鏡筒內。

8．顯微鏡光學部件有污垢，可用擦鏡紙或綢布擦凈，切勿用手指、粗紙或手帕去擦，以防損壞鏡面。

9．凡有腐蝕性和揮發性的化學試劑和藥品，如碘、乙醇溶液、酸類、堿類等都不可與顯微鏡接觸，如不慎污染時，應立即擦干凈。

10．使用油鏡觀察樣品后，隨即用將油鏡鏡頭和載玻片擦凈，以防其他的物鏡玻璃上沾上香柏油。有毒，使用后馬上洗手。

11．實驗完畢，要將載玻片取下，用擦鏡紙將鏡頭擦拭干凈。顯微鏡及時復原，處于非工作狀態：物鏡轉離通光孔，載物臺下降。后將顯微鏡放回鏡箱，登記使用記錄。切不可把顯微鏡放在直射光線下曝曬。

偏光顯微鏡的特點A)采用無限遠校正光學系統

偏光顯微鏡的特點

A)采用無限遠校正光學系統，具有大視野、成像質量高、功能等特點；

B)配備了長工作距離物鏡，為高溫狀態下檢測樣品熔點應用提供了良好條件；

C)圓形載物臺、偏光裝置起偏器與檢偏器均可360?旋轉，是偏光/錐光觀察手段的必要條件；

D)具有透射照明與垂直照明系統，且兩者之間可任意切換；

E)可依據客戶需求升級為偏光熱臺顯微鏡、數碼攝像顯微系統等；

正交偏光顯微鏡下的晶體光學性質

所謂正交偏光顯微鏡，就是下偏光鏡和上偏光鏡聯合使用，并且兩偏光鏡的振動面處于互相垂直位置。為了觀察方便，要使兩偏光鏡的振動方向嚴格與目鏡“東西”、“南北”十字絲一致。在正交偏光鏡下觀察時，入射光是近于平行的光束，故又稱為平行正交偏光顯微鏡鏡。

在正交偏光鏡的物臺上，如不放任何晶體光片時，其視域是黑暗的。因為光通過下偏光鏡，其振動方向被限制在下偏光鏡的振動面PP內，當PP方向振動的光到達上偏光鏡AA時，由于兩振動方向互相垂直，光無法通過上偏光鏡，所以視域是黑暗的。 若在正交偏光顯微鏡下的物臺上放置晶體光片，由于晶體的性質和切片方向不同，將出現消光和干涉等光學現象。