產(chǎn)品電壓跌落整改常用指南“本信息長期有效”

電磁兼容(EMC)整改

將桌子轉(zhuǎn)到待測（EUT）大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關(guān)掉EUT電源加以確認(rèn)。

由于EMI測試上﹐EUT必須轉(zhuǎn)360度而天線由1m到4m變化﹐其目的是要記錄輻射大的情況。同樣地﹐當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)無法通過測試時﹐首先我們先將天線位置移到噪聲接收大高度﹐然后將桌子轉(zhuǎn)到差角度﹐此時我們知道在EUT面對天線的這一面輻射強(qiáng)﹐故可以初步推測可能的原因﹐如此處屏蔽不佳或靠近輻射源或有電線電纜經(jīng)過等。另外須注意的是要關(guān)掉EUT的電源﹐看噪聲是否存在﹐以確定噪聲確實是由EUT所產(chǎn)生。

另外須注意的是要關(guān)掉EUT的電源﹐看噪聲是否存在﹐以確定噪聲確實是由EUT所產(chǎn)生。曾見測試Monitor一直無法解決某一點的干擾﹐結(jié)果其噪聲是由PC所造成而非Monitor的問題﹐亦有在OPEN SITE測試Monitor發(fā)現(xiàn)某幾點無法通過﹐由測試接收儀器的聲音判斷應(yīng)是Monitor產(chǎn)生﹐結(jié)果關(guān)掉電源發(fā)現(xiàn)噪聲依然存在﹐所以關(guān)掉EUT電源的步驟是必須的﹐而且通常容易被忽略。為了解決上述問題，設(shè)計人員可以有三種選擇:重新設(shè)計線路及內(nèi)部布局，盡量降低設(shè)備對導(dǎo)電噴涂的需要。

電源線無法移去﹐可在其上夾Core或水平垂直擺動﹐看噪聲是否有減小或變化。若產(chǎn)品有電池設(shè)備則可取下電源線判斷﹐如Notebook PC等。

如前所述電源線往往是會成為輻射天線﹐尤其是Desktop PC類產(chǎn)品﹐往往300MHz以上的噪聲會由空間藕合到電源線上﹐所以判斷產(chǎn)品的電源線是否受到感1染是必須的步驟。由于噪聲頻帶的影響﹐對200MHz以下可用加Core的方式（可一次多加數(shù)個）判斷﹐對于200MHz以上的噪聲﹐由于此時Core的作用不大﹐可將電源線水平擺放和垂直擺放﹐看干擾噪聲是否有差別﹐若水平和垂直有很明顯的差別﹐則可一邊擺動電源線一邊看頻譜儀（Spectrum)上噪聲之大小有否變化﹐如此便可知道電源線有否干擾。電磁兼容整改的對策器件磁環(huán)/磁珠由鎳鋅鐵氧體或錳鋅鐵氧體材料制成，在不同的頻率下有不同的阻抗特性，低頻時阻抗很小，高頻時阻抗急劇升高，對于高頻噪聲有很好的抑制作用。

至于若發(fā)現(xiàn)電源線會產(chǎn)生輻射時如何解決﹐一般皆不好處理﹐通常先想辦法使機(jī)器內(nèi)的噪聲減小﹐以避免電源線的二次輻射﹐而使用Shielded線一般對輻射的影響并不大﹐故換一條不同長度的電源線﹐有時也會有很好的效果。

由這一點我們可知道﹐除了要使可冊產(chǎn)生輻射噪聲的組件遠(yuǎn)離I/O Port外﹐其也須盡量遠(yuǎn)離電源線及Switching power supply的板子﹐以免藕合到電源線上使得輻射及傳導(dǎo)皆無法通過測試。

常見電磁兼容干擾問題

設(shè)備內(nèi)部線路的相互藕合問題 

在高頻狀態(tài)下，設(shè)備內(nèi)部線路之間會有一個相互藕合的問題，因此線路的布局不當(dāng)，特別是對患者檢測信號輸入線路的布局不當(dāng)，常常是導(dǎo)致醫(yī)1療設(shè)備設(shè)計成敗的兩種截然不同的結(jié)果的直接原因。 在處理設(shè)備的電磁兼容上出現(xiàn)的問題時，常常會將電感器或鐵氧體磁芯置于線路的輸入與輸出之間，用以抑制設(shè)備內(nèi)部和外部的射頻干擾，這樣一來就使朝向噪聲源這一端的電感器帶有相當(dāng)大的高頻電壓。這種高頻電壓可通過電容性的耦合而作用到附近的金屬性物質(zhì)上，如接地層、電路板、散熱器等。因此，在采用這種處理干擾的抑制方案時要十分小心，要避免與一些敏感器件或敏感電路產(chǎn)生耦合。 另外，在用鐵氧體磁芯吸收線路上的干擾時，將鐵芯體磁芯放在連接線路的外部要比把它布放在電路板的效果會明顯一些。因為這種方式可避免干擾在磁芯后面的連接線路與敏感線路的耦合問題。另外若使用Shielded的電纜線﹐必須檢查接頭端處外覆的金屬綱是否和其鐵蓋密合﹐許多不佳的屏蔽線（RS232）多因線接頭的外覆屏蔽金屬綱未冊和連接端的地密合﹐以致無法充份達(dá)到屏蔽的效果。