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              文章詳情

              鍍層膜厚儀可量尺定做

              發布時間:2020-08-22 14:48  

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              一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體

              元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

              一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

              xiao測量面積0.002m㎡  深凹槽20mm以上

              鍍層厚度分析儀測量原理與儀器

              一. 磁吸力測量原理鍍層厚度分析儀

              磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系,這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀,只要覆層與基材的導磁率之差足夠大,就可進行測量。鑒于大多數工業品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測厚儀應用廣。測厚儀基本結構由磁鋼,接力簧,標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后,將測量簧在其后逐漸拉長,拉力逐漸增大。當拉力剛好大于吸力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產品可以自動完成這一記錄過程。古董的檢測X熒光儀器在古董的檢測鑒定上也起著重要的作用,通過儀器檢測對產品進行定性分析可得其元素成分,從而對產品的年限進行一個判斷,得出結論。不同的型號有不同的量程與適用場合。這種儀器的特點是操作簡便、堅固耐用、不用電源,測量前無須校準,價格也較低,很適合車間做現場質量控制。

              二. 磁感應測量原理鍍層厚度分析儀

              采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭,測量感應電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術,利用磁阻來調制測量信號。3.標準塊的X射線發射(或吸收)特性及使用校正標準塊的覆蓋層應與被測覆蓋層具有相同的X射線發射(或吸收)特性。還采用專利設計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個數量級)。現代的磁感應測厚儀,分辨率達到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業的各種防腐涂層。

              三. 電渦流測量原理鍍層厚度分析儀

              高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。是目前應用最為廣泛,具有速度快、無損化以及可實現多鍍層同時分析等特點。與磁感應原理比較,主要區別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。

              采用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體,但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。金屬鍍層通常按鍍層的用途可把鍍層分為三大類,即防護性鍍層,防護一裝飾性鍍層和功能性鍍層。


              一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

              應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題

              這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。參考標準塊應具有的已知單位面積質量或厚度的均勻的覆蓋層,如果是合金,則應知其組成。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

              隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產品更低。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經濟地進行。

                 江蘇一六儀器  X熒光測厚儀測試要求:

              工作要求:

              1 環境溫度要求:15℃-30℃

              2 環境相對濕度:<70%

              3 工作電源:交流220±5V

              4 周圍不能有強電磁干擾。

              5 Max功率 :330W

              6 外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm (長x寬x高)

              7 樣品倉尺寸 :500mm×360 mm ×215mm (長x寬x高)

              8 儀器重量 :55kg

              9 分析軟件EFP,可同時分析23層鍍層,24種元素,不同層有相同元素也可分析

              10 軟件操作人性化封閉軟件,自動提示校正和步驟,避免操作錯誤

              11 X射線裝置:W靶微聚焦加強型射線管





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