第三方跌落測(cè)試點(diǎn)擊了解更多 天標(biāo)檢測(cè)

對(duì)于不同國(guó)際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對(duì)于手持型產(chǎn)品（如手機(jī)， MP3等）大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿(mǎn)足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對(duì)手持型產(chǎn)品（如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。包括：（1）非包裝狀態(tài)產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受的自由跌落，樣品通常按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

可依據(jù)國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)提供光老化試驗(yàn)、溫濕度試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn)、機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)和跌落試驗(yàn)、防塵防水試驗(yàn)以及包裝壓力試驗(yàn)等多項(xiàng)環(huán)境和可靠性試驗(yàn)，涵蓋了氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)及綜合環(huán)境試驗(yàn)的絕大部分項(xiàng)目, 能同時(shí)滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)和民用標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試要求。d無(wú)論何種狀態(tài)和形狀的試驗(yàn)樣品，都應(yīng)使試驗(yàn)樣品的重力線(xiàn)通過(guò)被跌落的面、線(xiàn)、點(diǎn)。實(shí)驗(yàn)室擁有大型步入式環(huán)境試驗(yàn)箱，容積達(dá)45m3，可為大型試樣開(kāi)展溫濕度試驗(yàn)；配套有先進(jìn)的性能測(cè)試儀器和分析儀器，可對(duì)試驗(yàn)中的產(chǎn)品及材料進(jìn)行電學(xué)表觀性能測(cè)試，能夠滿(mǎn)足很多特殊測(cè)試要求。

試驗(yàn)設(shè)備..4門(mén)沖擊臺(tái)沖擊臺(tái)面為水平平面，試驗(yàn)時(shí)不移動(dòng)，不變形，并滿(mǎn)足下列要求:a.為整塊物體，質(zhì)量至少為試驗(yàn)樣品質(zhì)量的50倍;b.要有足夠大的面積，以保證試驗(yàn)樣品完全落在沖擊臺(tái)面上;。配套有先進(jìn)的性能測(cè)試儀器和分析儀器，可對(duì)試驗(yàn)中的產(chǎn)品及材料進(jìn)行電學(xué)表觀性能測(cè)試，能夠滿(mǎn)足很多特殊測(cè)試要求。.在沖擊臺(tái)面上任意兩點(diǎn)的水平高度差不得超過(guò)2mm;d沖擊臺(tái)面上任何1000m'0k其變形量不得超過(guò)。1 i,m的面積上承受1 g的靜負(fù)荷時(shí)，mn4.2提升裝置在提升或下降過(guò)程中，不應(yīng)損壞試驗(yàn)樣品。..4.3支撐裝置支撐試驗(yàn)樣品的裝置在釋放前應(yīng)能使試驗(yàn)樣品處于所要求的預(yù)定狀態(tài)。4.4釋放裝置在釋放試驗(yàn)樣品的跌落過(guò)程中，應(yīng)使試驗(yàn)樣品不碰到裝置的任何部件，保證其自由跌落。國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局1992一02一13批準(zhǔn)GB/T 4857.5一.. 9 2