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發布時間：2020-07-31 13:45
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一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。測試膜，又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測膜，光譜儀樣品薄膜。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。
X-RAY測厚儀特點
1，價格高，機種不同，價格在10萬~100萬左右，可測試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。
2，無損檢測，Windows操作系統，使用簡便。操作快速，能適應多類鍍層，大量檢測，但體積較大，計算機除外約100000cm2，50000g左右。
3，測量厚度范圍較廣，
0.002um~100um左右，能測試5層以上膜厚，并且可以測量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。
4，測量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。
5，測頭的面積較小，對需測的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測量，基材厚度無要求。
6，可編程XYZ測量臺及大移動范圍。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。
X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進行分析的一種常見分析儀器。通常認為X區域0.01-10nm之間的一段電磁波譜，短波邊以伽馬射線為界，長波邊與真空紫外線區域的實際界線。
X射線熒光光譜儀特點
1、一種真正意義上 的無損分析，在分過程中不會改變樣品的化學形態。具有不污染、節能低耗等優點。
2、分析速度快，無須進行樣品預處理，升值無須樣品的制備，X射線熒光光譜分析可以篩選大量的樣品。一般情況下檢測在3分鐘以下。
3、自動化程度高。
4、可以同時測定樣品中的多種元素。
5、隨著分析技術的發展，儀器可以滿足很多行業的需求。如：地質礦產，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、鍍層等諸多行業。
6、樣品的形態廣。
7、X射線熒光光譜儀分為波長色散譜儀和能量色散譜儀可以滿足各行個元素的需求。
8、X射線熒光光譜儀中的能量色散儀是低分辨率光譜儀已是在線分析的選擇儀器之一。
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀 元素分析范圍：氯（CI）- 鈾（U）
厚度分析范圍：各種元素及有機物
x射線熒光鍍層測厚儀（國產）是一款針對金屬電鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等）厚度的，通過X熒光照射出產品，每個元素反射出的二次特征譜線，通過檢測器分析出強度來金屬鍍層的厚度，完全達到無損、快速分析的效果，產品廣泛應用于電子電器、五金工具、電鍍企業（鋁平行管、電鍍五金），連接器企業、開關企業等。可靠性高：由于測試過程無人為干擾因素，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。
x射線熒光鍍層測厚儀性能優勢
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
minimum φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點x射線熒光鍍層測厚儀技術參數
一次可同時分析多達五層鍍層
度適應范圍為15℃至30℃
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
分析含量一般為2ppm到99.9%
