鍍層膜厚儀行業專家在線為您服務 一六儀器有限公司

儀一六儀器 快速精準分析膜厚儀穩定的多道脈沖分析采集系統,先進的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.

測厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測厚儀

四、電解式（庫倫法）

五、金相測試法

六、非破壞熒光式（X光）

1.渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流，此渦liu產生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關，因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機體，使磁通量csgia。

2.同位素測厚儀利用物質厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。本公司先進的技術，you秀的良將，嚴格的企業管理是不斷發展壯大、產品能夠贏得客戶信賴的根本所在。一六儀器、一liu品質，各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎來電咨詢！

激光測厚儀技術指標：

     可測范圍：0～500mm

      較：0.5μm

     測量速度：較高9400Hz

     測量距離：10～200mm

     被測體水平方向運動速度較高560m/min

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X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經環境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量。尤其是在熱軋的過程中,測量的空間大X射線途經的環境就比較大,當溫度高時,測量值減小,當溫度低時,測量值則增加。

第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度。比如,在軋制生產中,測量的鋼板上可能會附著著水、油或者氧化物,這都會對X射線測厚儀的測量值造成影響,出現誤差。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。X射線測厚儀多少錢一臺，其實我們較好的方式就是咨詢測厚儀廠家，這樣得出的價格才是最真實的。