火花直讀光譜儀廠家服務為先 北京鋼研納克

鋼研納克SparkCCD7000

高分辨率 CCD 檢測器

像素數：3648 46 全行業較高

像素尺寸：8μm 全行業較小

精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N

萬級超凈環境下打造較優光學系統

帕邢 - 龍格結構羅蘭光學系統，無像差，分辨率均勻

高發光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業較高

線分辨率 0.7407nm/mm

像素分辨率 0.005926nm

譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系統，再啟動耗時行業較低

潮汐式沖洗方式，冷機（關機 12 小時）啟動只需 30min，熱機啟動時間 5min

智能判斷分析間隔時間，合理補充氣，降低氣消耗

60ml/min 超低待機流量，一瓶氣 24 小時待機 70 天

分片式曝光，痕量元素識別強度大幅提高，檢出限更低

一次激發，分片曝光，同時采集，同時回數

獨立控制不同 CCD 的積分曝光時間

提升痕量元素的強度，降低儀器的檢出限

隨波段調節積分時間，提升儀器的 穩定性

儀器測定結果偏差較大，分析結果不穩定該如何處理？

1）檢查分析方法是否正確，如分析模型、分析程序等；

2）儀器本身穩定：檢查儀器光室溫度、內部環境溫度、氣壓力是否滿足分析要求；

3）激發控樣：若控樣分析結果良好，說明儀器性能不存在問題，待測樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷；

4）控樣結果也存在較大問題時，應當標準化；

5）清理火花臺，擦拭透鏡或平鏡，清理排污通道，更換氣等，然后重新校準曲線；

6）外界條件符合要求：室溫、濕度在規定范圍內；電源電壓穩定；周圍無大功率、強輻射電器運作；地線連接良好等；

7）對部分基體中的特別元素需要延長儀器穩定時間。

若還存在問題，請聯系鋼研納克售后工程師。

直讀光譜儀有哪些種類？

直讀光譜儀可以有不同的劃分方法。

根據光柵所處的環境不同，可分為真空型和非真空型直讀光譜儀，其中非真空型直讀光譜儀又可分為空氣型直讀光譜儀（無法測定真空紫外波段的C、P、S、As等元素含量）和充惰性氣體型直讀光譜儀（可以測定真空紫外元素）；

根據儀器的結構不同，又可分為多道直讀光譜儀和全譜直讀光譜儀，其中前者多采用光電倍增管作為檢測器，后者多采用陣列檢測器（如CCD）。

隨著CCD技術的不斷發展，直讀光譜儀開始朝小型化、全譜型方向發展。小型化儀器功耗小，占用空間小且易于維護；全譜直讀光譜儀能夠獲得全波段范圍內的光譜，滿足多基體分析要求，譜線選擇靈活，可以有效扣除光譜干擾，分析更準確，而多道直讀光譜儀只能檢測有限數量的光譜，很難做到這一點。

直讀光譜儀

清洗激發臺的內表面，主要是避免殘留內壁的粉塵放電影響分析結果。通常每激發100—200次應清理一次。電極與激發面之間的距離，必須按極距要求調整好，如果與激發面的距離太大，試樣不易激發，如果電極與激發面的距離太小，曝光時放電電流太大，以至于與儀器各參數不相匹配，使測定結果與實際結果之間有差異，影響測定的準確性。因此必須將電極與激發面的距離調整準確，清洗激發臺和電極后一定要重視這個問題。