原子熒光分析儀廠家常用指南,北京吉天儀器有限公司

原子熒光光譜儀的原理及特點

AFS是介于原子吸收光譜分析（AAS）和原子發射光譜分析（AES）之間的一種分析技術。AFS的基本原理是將含有一定濃度的待測元素通過原子化器進行原子化后，原子蒸氣經過特定頻率的激發光源輻射而被激發至高能態，接著輻射去活化而以光輻射的形式發射出特征波長的熒光，再利用檢測器測定原子熒光的強度即可求得待測元素的含量。原子熒光光度計故障排查原子熒光光度計在對土壤的元素檢測時，其熒光強度非常低，并且不會隨著標準濃度變化而變化，標準下的濃度熒光強度基本上和空白時相同。原子熒光光譜儀是一種簡便、優良的痕量分析技術，具有分析檢測靈敏度高、測定干擾沙、儀器設備簡單便宜、檢出限低、線性范圍寬（可達3~5個數量級）和能夠多元素同時分析等特點，檢測元素時試樣的進樣量較少，僅需幾微升就能滿足測定要求。

原子熒光光譜儀的基本原理

原子熒光光譜法是通過測量待測元素的原子蒸氣在輻射能激發下產生的熒光發射強度，來確定待測元素含量的方法。

氣態自由原子吸收特征波長輻射后，原子的外層電子從基態或低能級躍遷到高能級經過約10-8s，又躍遷至基態或低能級，同時發射出與原激發波長相同或不同的輻射，稱為原子熒光。原子熒光分為共振熒光、直躍熒光、階躍熒光等。

發射的熒光強度和原子化器中單位體積該元素基態原子數成正比，式中：I f為熒光強度；φ為熒光量子效率，表示單位時間內發射熒光光子數與吸收激發光光子數的比值，一般小于1；原子熒光使用禁忌和故障排除要點原子熒光光譜法是一種痕量和超痕量分析方法。Io為激發光強度；A為熒光照射在檢測器上的有效面積；L為吸收光程長度；ε為峰值摩爾吸光系數；N為單位體積內的基態原子數。

原子熒光發射中，由于部分能量轉變成熱能或其他形式能量，使熒光強度減少甚至消失，該現象稱為熒光猝滅。

主要部件及功能

光源早期的熒光分光光度計，配有能發生很窄線的低壓燈。使用高壓燈，譜線被加寬，而且也存在高強度的連續帶。每隔2個月將儀器的所有配件卸下，進行徹底地清洗，烘干后再重新安裝使用。然而，一個完整的激發光譜的測定需一種能發射從可見到紫外范圍的較高強度的光輻射的燈。氙弧燈能適于此條件，因此，它是目前在熒光分光光度計中廣泛使用的光源。

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原子熒光光譜儀的特點

1、USB2.0通信接口

淘汰了老舊的232串口通信方式，采用的USB2.0通信接口，提升了通信速度，兼容計算機系統。

2、氣體流量控制系統

儀器采用全自動氣體流量控制系統，氣體流量控制快速穩定，同時具備異常診斷功能，儀器不工作時自動切斷Ar氣，節省氣源用量。其中AFS200N采用集成氣路氣體流量控制系統，通過壓力開關實時監測氣體壓力；AFS200T采用雙路質量流量控制器氣體流量控制系統，控制精度可達1ml/min。9：點擊“標準測量”--------“測量標準曲線”--------輸入文件名------確定10：當上面的步驟完成后就開始測樣品。