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發(fā)布時間：2020-07-20 17:16
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一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
用轉(zhuǎn)移法測量塑膠產(chǎn)品上涂層時注意事項：
由于對塑膠產(chǎn)品上涂層的測量，如使用超聲波發(fā)測量時，經(jīng)常因涂層與基材發(fā)生相溶而沒有較好的聲波反射面，從而導(dǎo)致測量失敗或讀值嚴(yán)重偏差。如使用切鍥法，也多有使用不方便和讀數(shù)困難的地方。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收，而是以輻射形式放出，便產(chǎn)生X射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。所以目前便攜式電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠普遍使用轉(zhuǎn)移法測量塑膠產(chǎn)品上涂層，先在產(chǎn)品上蓋若干小條標(biāo)準(zhǔn)厚度的聚酯薄膜，再用紙基美紋膠壓住兩頭，留出中間部分。將該產(chǎn)品放入噴涂線上正常噴涂、烘烤。
一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
在我們的售前服務(wù)工作中，客戶通常都會拿一些在其它機構(gòu)或者儀器測量過的樣品來與我們儀器進(jìn)行測試結(jié)果對比，在確認(rèn)雙方儀器都是正常的情況下，會存在或多或少的差異，那么我們務(wù)必要把這個差異的來源分析給客戶，我們在分析之前首先要給客戶解說測試的基本原理，告知此儀器為對比分析測試儀器，然后再談?wù)`差來源，主要來源：
1、標(biāo)樣：對比分析儀器是要求有越接近于需測試樣品的標(biāo)樣，測試結(jié)果越接近實際厚度。確認(rèn)雙方有沒有在標(biāo)定和校正時使用標(biāo)樣？使用的是多少厚度的標(biāo)樣？
2、樣品材料的詳細(xì)信息：如Ni/Cu的樣品，如果一家是按化學(xué)Ni測試，一家是按純Ni測試；Au/Ni/Cu/PCB樣品，一款儀器受Br干擾，一款儀器排除了Br干擾。
3、測量位置、面積：確定在同一樣品上測試的是否同一位置，因為樣品在電鍍時因電位差不同，各部位厚度是有差異的；確認(rèn)兩款儀器測量面積的大小有多少差異。
4、樣品形狀：測量的樣品是否是兩款儀器都可測量，或者放置位置是否合適，如突出面有無擋住設(shè)備接收。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀
一六儀器 X熒光光譜測厚儀
鍍層分析X射線熒光光譜特點
1.鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數(shù)10S-1分鐘，分析精度高。
2.可測試超薄的鍍層。
3.可測試多鍍層，分析精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測量方法。
4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準(zhǔn)確的分析出合金鍍層的厚度。
5.對于樣品可進(jìn)行連續(xù)多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復(fù)雜面進(jìn)行測量。
6.對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別
7.不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。
8.可以對樣品進(jìn)行測試
9.屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標(biāo)樣
